日本大塚OPTM膜厚儀優惠報價

采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通膜厚儀的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。膜厚測試儀測量時間的選擇測量時間越長穩定度越好,一般來說,單鍍層不小于15秒,雙鍍層和合金比例測量時間不少于30秒鐘,三鍍層測量時間不少于45秒,鍍液主離子濃度測量時間在30～60秒之間。早期的產品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。