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              真空箱式鍍膜機檢漏服務收費標準的行業須知「科創真空」

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              發布時間:2021-09-25 01:38  
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              視頻作者:北京科創鼎新真空技術有限公司






              正壓法氦質譜檢漏

              采用正壓法檢漏時,需對被檢產品內部密封室充入高于一個大氣壓力的氦氣,當被檢產品表面有漏孔時,氦氣就會通孔漏孔進入被檢外表面的周圍大氣環境中,再采用吸槍的方式檢測被檢產品周圍大氣環境中的氦氣濃度增量,從而實現被檢產品泄漏測量。按照收集氦氣方式的不同,又可以將正壓法分為正壓吸槍法和正壓累積法。其中正壓吸槍法采用檢漏儀吸槍對被檢產品外表面進行掃描探查,可以實現漏孔的; 正壓累積法采用有一定密閉功能的氦罩將被檢產品全部罩起來,采用檢漏儀吸槍測量一定時間段前后的氦罩內氦氣濃度變化量,實現被檢產品總漏率的測量。保證試漏方向與使用中所受壓力方向相同許多密封件有一個的安裝方向,且僅在這個方向才能起到密封作用。

              正壓法的優點是不需要輔助的真空系統,可以,實現任何工作壓力下的檢測。

              正壓法的缺點是檢測靈敏度較低,檢測結果不確定度大,受測量環境條件影響大。

              正壓法的檢測標準主要有QJ3089-1999《氦質譜正壓檢漏方法》、QJ2862-1996《壓力容器焊縫氦質譜吸槍罩盒檢漏試驗方法》,主要應用于大容積高壓密閉容器產品的檢漏,如高壓氦氣瓶、艙門檢漏儀等。





              保證試漏方向與使用中所受壓力方向相同

              許多密封件有一個的安裝方向,且僅在這個方向才能起到密封作用。例如,徑向軸封件,這種徑向軸封件僅在一個方向有密封作用,相反方向將出現漏泄。同樣,還有很多密封件都會有類似的情況。如果試漏方向與使用中所受壓力方向相同,將易于找到實際的漏孔而不至于受到報警的干擾。試漏壓力與運行過程中受到的較大壓力相同許多密封件是在一定的壓力閾值下出現泄漏。

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              試漏壓力與運行過程中受到的較大壓力相同

              許多密封件是在一定的壓力閾值下出現泄漏。如果未在運行過程的壓力下試漏,那么一些漏孔則不宜檢測出來。因此,在測漏過程中采用較高的測試壓力,可有效檢測出在實際運行中未出現的漏孔。

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              噴氦法氦質譜檢漏方法

              這是常用的一種方法,一般用于檢測體積相對較小的部件,將被檢器件和儀器連通,在抽好真空后,在被檢器件可能存在漏孔的地方(如密封接頭,焊縫等) 用噴槍噴氦,如圖4 所示,如果被檢器件某處有漏孔,當氦噴到漏孔上時,氦氣立即會被吸入到真空系統,從而擴散到質譜室中,氦質譜檢漏儀的輸出就會立即有響應,使用這種方法應注意:氦氣是較輕的惰性氣體,在噴出后會自動上升,為了準確的在漏孔位置噴氦,噴氦時應自上而下,由近至遠(相對檢漏儀位置) ,這是因為在噴下方時氦氣有可能被上方漏孔吸入,就很難確定漏孔的位置;再者漏孔離質譜室的距離檢漏儀反應時間也不同,所以噴氦應先從靠近檢漏儀的一側開始由近至遠來進行。正壓法氦質譜檢漏采用正壓法檢漏時,需對被檢產品內部密封室充入高于一個大氣壓力的氦氣,當被檢產品表面有漏孔時,氦氣就會通孔漏孔進入被檢外表面的周圍大氣環境中,再采用吸槍的方式檢測被檢產品周圍大氣環境中的氦氣濃度增量,從而實現被檢產品泄漏測量。





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