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ISO 18844數字相機圖像眩光測試卡

描述此測試卡有兩種結構，一種一層結構，另一種是兩層結構。一層結構中，黑點的光學密度為4.5，透過率為 0.000316， 二層結構黑點的光學密度為9，透過率為0.000000001 。

此測試卡與均勻透射背光光源配合使用，拍攝時需要在全黑的暗室中， 在測試卡表面不能有環境光帶來的反射，會影響分析數據。

遵循標準ISO 18844:2017 – Digital cameras – Image flare measurement

ISO 18844 標準推薦的測試圖案，是兩行呈對角線排列的高密度光陷阱(或黑洞)。Imatest軟件較早版本的Veiling glare分析，僅測試了在圖像一個固定區域的點的眩光數據，但是在鏡頭的不同位置，眩光的數據有可能不同。斜邊的MTF50是大于16cycles/mm,比起微噴的圖卡要好3倍以上。ISO 18844 標準中type C型，測試卡在Imatest V5.0版軟件中得到了支持，可以通過Uniformity模塊，或Uniformity交互式模塊進行分析。

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ISO12233:2014 eSFR分辨率測試卡簡介

SineImage eSFR分辨率測試卡配合軟件可以自動計算幾個關鍵圖像質量因素包括銳度、橫向色差、階調反應、色彩反應及噪點。

與低反差 Edge SFR 規格完全相容，新的標準為 ISO 12233:2014取代了2000標準，因為之前使用高反差測試圖容易引起出界或量度誤差，也缺少漸進組別評定系統的階調反應，并且只有少量功能適用于自動分析。

SineImage eSFR分辨率測試卡的設計基于ISO 12233:2014 定義的低反差edge SFR規格。

測試卡有以下三種版本：

標準版：基礎的功能

增強版：增加了額外的正方形、楔形和色彩圖案

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OECF 36階測試卡簡介

對于高動態范圍攝像機，OECF測試卡根據ISO 14524計算的結果并不令人信服。根據立方根公式計算密度，導致高密度灰階塊中的跨度較大。圖像ISO18844數字相機圖像眩光測試卡此測試卡有兩種結構，一種一層結構，另一種是兩層結構。 Image Engineering針對這個問題的解決方案是TE269，這是一個36階的OECF測試卡，基本上遵循ISO 14524，但是增加了額外的灰階，特別是在更高的密度水平。

我們的OECF測試卡具有穩定的生產工藝和強中性的優勢。此外，可實現高達1.000.000：1 / 120dB的非常高的動態范圍。

TE269透射式測試卡可以使用基于iQ-LED的照明設備LE7進行照明。

該分析在Image Engineering iQ-Analyzer軟件中實現。例如，它提供以下結果：OECF，動態范圍，SNR，噪聲，時間噪聲，視覺噪聲

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