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              棗莊涂層測(cè)厚儀信賴推薦「多圖」

              【廣告】

              發(fā)布時(shí)間:2020-11-01 12:23  







              一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

              元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

              一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

              鍍層厚度分析儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類型:

              1.磁性測(cè)厚法

              適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為:鋼、鐵、銀、鎳。此種方法測(cè)量精度高。

              2.渦流測(cè)厚法

              適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。此種方法較磁性測(cè)厚法精度低。

              3.超聲波測(cè)厚法

              目前國內(nèi)還沒有用此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的,國外個(gè)別廠家有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無法測(cè)量的場合。但一般價(jià)格昂貴,測(cè)量精度也不高。

              4.電解測(cè)厚法

              此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測(cè),需要破壞涂鍍層。一般精度也不高。測(cè)量起來較其他幾種麻煩。

              5.測(cè)厚法

              此種儀器價(jià)格昂貴,適用于一些特殊場合。



              一六儀器 專業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

              應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

              這些方法中前五種是有損檢測(cè),測(cè)量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗(yàn)。開始測(cè)量:點(diǎn)擊開始測(cè)試圖標(biāo),進(jìn)行樣品測(cè)試或者按動(dòng)儀器前面板測(cè)試按鈕進(jìn)行樣品測(cè)試13。X射線和β射線法是無接觸無損測(cè)量,但裝置復(fù)雜昂貴,測(cè)量范圍較小。因有源,使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。

              隨著技術(shù)的日益進(jìn)步,特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后,采用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型、智能、多功能、、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀X射線熒光光譜測(cè)厚儀定量分析利用熒光X射線進(jìn)行定量分析的時(shí)候,大致分為3個(gè)方法。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米,精度可達(dá)到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價(jià)廉,是工業(yè)和科研使用廣泛的測(cè)厚儀器。采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材,檢測(cè)速度快,能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。


              江蘇一六儀器  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

              性能優(yōu)勢(shì):

                 下照式設(shè)計(jì):可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。

                 無損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無損檢測(cè),凹槽深度范圍0-90mm。

                 微聚焦射線裝置:可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品,可測(cè)試各微小的部件。

                 jie shou 器:即使測(cè)試0.01mm2以下的樣品,幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。

                 EFP先進(jìn)算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

              統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、max值、min值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、CP、數(shù)據(jù)編號(hào)、CPK、控制上限圖、控制下限圖數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表直方圖數(shù)據(jù)庫存儲(chǔ)功能

              -系統(tǒng)安全監(jiān)測(cè)功能Z軸保護(hù)傳感器樣品室門開閉傳感器操作系統(tǒng)多級(jí)密碼操作系統(tǒng):操作員、分析員、工程師-任選軟件統(tǒng)計(jì)報(bào)告編輯器允許用戶自定義多媒體報(bào)告書液體樣品分析,如鍍液中的金屬元素含量材料鑒別和分類檢測(cè)材料和合金元素分析檢測(cè)。


              江蘇一六儀器   X熒光光譜測(cè)厚儀 特點(diǎn)

              快速:1分鐘就可以測(cè)定樣品鍍層的厚度,并達(dá)到測(cè)量精度要求。

              方便:X熒光光譜儀部分機(jī)型采用進(jìn)口國際上先進(jìn)的電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器,能量分辨率更優(yōu)于135eV,測(cè)試精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期補(bǔ)充液氮,操作使用更加方便,并且運(yùn)行成本比同類的其他產(chǎn)品更低。

              無損:測(cè)試前后,樣品無任何形式的變化。

              直觀:實(shí)時(shí)譜圖,可直觀顯示元素含量。

              測(cè)試范圍廣:X熒光光譜儀,是一種物理分析方法,其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)。對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,抽真空可以測(cè)試從Na到U。

              可靠性高:由于測(cè)試過程無人為干擾因素,儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以,其測(cè)量的可靠性更高。

              滿足不同需求:測(cè)試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件,操作方便、功能強(qiáng)大,軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài),設(shè)定儀器參數(shù),并就有多種先進(jìn)的分析方法,工作曲線制作方法靈活多樣,方便滿足不同客戶不同樣品的測(cè)試需要。

              性價(jià)比高:相比化學(xué)分析類儀器,X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢(shì)的,可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。

              簡易:對(duì)人員技術(shù)要求較低,操作簡單方便,并且維護(hù)簡單方便。


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