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發布時間:2020-12-11 05:07  






刻蝕技術
由于曝光束不同,刻蝕技術可以分為光刻蝕(簡稱光刻)、X射線刻蝕、電子束刻蝕和離子束刻蝕,其中離子束刻蝕具有分辨率高和感光速度快的優點,是正在開發中的新型技術。
北京創世威納以誠信為首 ,服務至上為宗旨。公司生產、銷售離子束刻蝕機,公司擁有強大的銷售團隊和經營理念。想要了解更多信息,趕快撥打圖片上的熱線電話!
反應性離子刻蝕
以下是創世威納為您一起分享的內容,創世威納專業生產反應性離子刻蝕機,歡迎新老客戶蒞臨。
反應性離子刻蝕 (reaction ionetching;RIE)是制作半導體集成電路的蝕刻工藝之一。在除去不需要的集成電路板上的保護膜時,利用反應性氣體的離子束,切斷保護膜物質的化學鍵,使之產生低分子物質,揮發或游離出板面,這樣的方法稱為反應性離子刻蝕。
刻蝕氣體的選擇
對于多晶硅柵電極的刻蝕,腐蝕氣體可用Cl2或SF6,要求對其下層的柵氧化膜具有高的選擇比。刻蝕單晶硅的腐蝕氣體可用Cl2/SF6或SiCl4/Cl2;刻蝕SiO2的腐蝕氣體可用CHF3或CF4/H2;刻蝕Si3N4的腐蝕氣體可用CF4/O2、SF6/O2或CH2F2/CHF3/O2;刻蝕Al(或Al-Si-Cu合金)的腐蝕氣體可用Cl2、BCl3或SiCl4;刻蝕W的腐蝕氣體可用SF6或CF4;刻蝕光刻膠的腐蝕氣體可用氧氣。對于石英材料,可選擇氣體種類較多,比如CF4、CF4 H2、CHF3 等。我們選用CHF3 氣體作為石英的腐蝕氣體。其反應過程可表示為:CHF3 e——CHF 2 F (游離基) 2e,SiO 2 4F SiF4 (氣體) O 2 (氣體)。SiO 2 分解出來的氧離子在高壓下與CHF 2 基團反應, 生成CO ↑、CO 2↑、H2O ↑、O F↑等多種揮發性氣體 [3] 。
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