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發布時間:2024-11-13 11:00  





膜厚儀EDX8000B可分析的常見鍍層材料
可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。
單涂鍍層應用:如Cr/Fe, Ni/Fe, Ag/Cu,Zn/Fe等
多涂鍍層應用:如Au/Ni/Cu, Ag/Pb/Zn, Ni/Cu/Fe等
合金鍍層應用:如ZnNi/Fe, ZnAl/Ni/Cu等
合金成分應用:如NiP/Fe, 同時分析鎳磷含量和鍍層厚度

膜厚儀EDX-8000B型XRF鍍層測厚儀
Simply The Best
>微光斑X 射線聚焦光學器件
通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區域,實現高精度測量。
>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統
高計數率硅漂移檢測器可實現高精度測量。
>高分辨率樣品觀測系統
的點位測量功能有助于提高測量精度。
企業: 蘇州英飛思科學儀器有限公司
手機: 15950921613
電話: 0512-68635865
地址: 蘇州工業園區唯新路69號一能科技園2號樓407室