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廣州勱博——粒度計數儀報價

貝克曼庫爾特新一代LS 13 320 XR將激光衍射粒度分析提升到了一個更高的水平，升級版PIDS專利技術（專利號：4953978；5104221）、優化的132枚檢測器，保證了儀器分辨率更高，結果更準確，再現性更好。您不僅可以測量粒徑范圍更寬的顆粒，而且可以更快地檢測到顆粒粒徑間極細微的差異。

屏幕提示能夠正確看待消費者進行廣泛的取樣操作流程：優i秀實驗室儀器確診作用，含有為消費者強烈推薦的各種各樣操作流程|可吸入顆粒物沉定和每一次運作誤差的消費者提醒|HRLD智能傳感器服務項目和效正提醒別試品招生管理系統保證可以 造成一樣的。

貝克曼庫爾特激光衍射粒度分析儀LS 13 320 XR主要特點優于ISO 13 320技術標準符合FDA的21 CFR Part 11標準檢測器數量更多，高達132枚獨立物理位置檢測器，對應高達136個真實數據通道，能夠清晰區分不同粒度等級間散射光強譜圖差異，確保不缺漏絲毫信息，快速、準確的真實粒度測量。專利設計的“X”型對數排布檢測器陣列，可以準確記錄散射光強信號，不管單峰、多峰，準確分析粒度分布。

僅需3mL樣品即可獲得完i美的 HIAC 計數結果可快速獲取結果提高了實驗室的處理時間，利用內置的菜單驅動標準可在一分鐘內處理樣品并報告顆粒數HIAC 無與i倫比的準確性、可靠性和售后服務。HIAC 8012 是業內主力！HIAC 8012 液體顆粒計數器憑借業界內堪稱的支持和服務水平， 以及超過25年的現場使用經驗，成為行業內的標準，其可靠性傲視全球。 符合 ISO 4406， NAS 1638 標準和用戶自定義測試標準 MTD、 ACFTD以及 ISO 11171 顆粒計數標準。

全自動運算分析功能，多峰自動檢測，無需事先猜測峰型，無需選擇分析模型，提供客觀的報告。升級版PIDS技術提供創新的高分辨率納米粒度分析功能，真正實現10nm下限峰值測量。PIDS技術不僅可以直接檢測小至10 nm的顆粒，而且還可以直接檢測納米級的多峰分布。納米分析功能與微米分析功能合二為一，功能強大，真正10nm的測量可使其作為獨立的高分辨率納米粒度分析儀使用。

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