滁州光譜膜厚儀可量尺定做,一六儀器

一六儀器 專業測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題

軟件算法

?大致分為3個方法。一個是制作測量線的方法（經驗系數法）。這個方法是測定幾點實際的已知厚度樣品，尋求想測定元素的熒光X射線強度和厚度之間的關系，以其結果為基礎測定未知樣品取得熒光X射線，從而得到濃度值。

?另一個方法是理論演算的基礎參數法（FP法）。這個方法在完全了解樣品的構成和元素種類前提，利用計算的各個熒光X射線強度的理論值，推測測定得到未知樣品各個元素的熒光X射線強度的組成一致。

?NBS-GSC法也稱作理論Alpha系數法。它是基于熒光X射線激發的基本原理，從理論上使用基本物理參數計算出樣品中每個元素的一次和二次特征X射線熒光強度的。基于此再計算Lachance綜合校正系數，然后使用這些理論α系數去校正元素間的吸收增強。它與經驗系數法不同，這些校正系數是從“理論”上取得的，而非建立在“經驗”上。因而它也不需要那么多的標樣，只要少數標樣來校準儀器因子。1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求一次可同時分析多達五層鍍層度適應范圍為15℃至30℃鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）分析含量一般為2ppm到99。

XTU-A、XTU-50A：五金產品、緊固件、汽車配件、衛浴等，測量面積大于?0.2mm的產品

?XTU-BL：主要針對線路板等大平面，但是需要測試?0.1mm以下，且求購儀器預算較低的客戶。

?XTU-50B、XTU-4C：可測試小至?0.05mm測量面積，且搭載的精密移動平臺和變焦鏡頭（XTU全系列都含有）能滿足各種需求。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。

X射線熒光光譜儀是基于X射線熒光光譜法而進行分析的一種常見分析儀器。通常認為X區域0.01-10nm之間的一段電磁波譜，短波邊以伽馬射線為界，長波邊與真空紫外線區域的實際界線。

X射線熒光光譜儀特點

1、一種真正意義上 的無損分析，在分過程中不會改變樣品的化學形態。具有不污染、節能低耗等優點。

2、分析速度快，無須進行樣品預處理，升值無須樣品的制備，X射線熒光光譜分析可以篩選大量的樣品。一般情況下檢測在3分鐘以下。

3、自動化程度高。

4、可以同時測定樣品中的多種元素。

5、隨著分析技術的發展，儀器可以滿足很多行業的需求。如：地質礦產，冶金、化工、材料、石油勘探、考古、合金、土壤、鍍層等諸多行業。

6、樣品的形態廣。

7、X射線熒光光譜儀分為波長色散譜儀和能量色散譜儀可以滿足各行個元素的需求。

8、X射線熒光光譜儀中的能量色散儀是低分辨率光譜儀已是在線分析的選擇儀器之一。