舟山電鍍測厚儀行業專家在線為您服務 一六儀器1

X-RAY測厚儀特點

1，價格高，機種不同，價格在10萬~100萬左右，可測試P（磷）~U（鈾），并且支持Rohs及元素分析功能等。

 2，無損檢測，Windows操作系統，使用簡便。操作快速，能適應多類鍍層，大量檢測，但體積較大，計算機除外約100000cm2，50000g左右。

3，測量厚度范圍較廣，

0.002um~100um左右，能測試5層以上膜厚，并且可以測量合金鍍層，也可分析鍍層元素和含量比。

4，測量精度高，1%左右，分辨率高，0.001um左右。

5，測頭的面積較小，對需測的樣品要求不高：0.1mmψ以下也可測量，基材厚度無要求。

6，可編程XYZ測量臺及大移動范圍。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗，經與海內外多名專家通力合作，研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀

一六儀器  X熒光光譜測厚儀

鍍層分析X射線熒光光譜特點

     1.鍍層分析快速、無損，對樣品無需任何處理。一般測試一個點只需要數10S-1分鐘，分析精度高。

     2.可測試超薄的鍍層。

     3.可測試多鍍層，分析精度遠遠高于其他測量方法。

     4.可分析合金鍍層厚度。如果合金鍍層成分穩定，選擇合適的對比分析樣品，就可以準確的分析出合金鍍層的厚度。

     5.對于樣品可進行連續多點測量，適合分析鍍層的厚度分布情況，并可以對樣品的復雜面進行測量。

     6.對分析的多鍍層每層之間的材料，要求有明顯的區別

     7.不可以測試超厚樣品，普通金屬鍍層總厚度一般不超過40微米。

     8.可以對樣品進行測試

     9.屬于對比分析儀器，測試不同的鍍層樣品需要不同發鍍層標樣

江蘇一六儀器    X射線熒光鍍層測厚儀 為大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析提供解決方案

X射線熒光光譜測厚儀操作流程:

1.打開儀器電源 開關

2.打開測試軟件

3.聯機

4.打開儀器高壓鑰匙，觀察軟件界面管流值不為0值且正常上升至1000左右

5.待機30分鐘

6.打開測試腔放入標準元素片Ag，通過調整移動平臺滑軌和焦距旋鈕使軟件測試畫面清晰

7.點擊峰位校正圖標按照提示進行操作

8.根據已知樣品信息新建（或選擇）合適的產品程式

9.點擊資料圖標，根據客戶需求調整相關測量參數

10.放置樣品：打開測試腔，將樣品需要測試的一面大致朝向測試窗，邊觀察軟件測試畫面邊通過移動平臺滑軌微調測試位置

進而達到測試要求位置

11.調整焦距：使用儀器左側焦距調整旋鈕，使得軟件測試畫面盡可能清晰

12.開始測量：點擊開始測試圖標，進行樣品測試或者按動儀器前面板測試按鈕進行樣品測試

13.數據報告：對測量的數據結果進行對比和分析，判斷數據是否正常，若出現異常可進行多次測量排除偶然誤差

14.生成報告：點擊預覽報告可以對測試報告內容和格式進行調整，還可以電子版保存報告和直接打印紙質報告

15.整理反饋：對測試結果進行分析和整理，可通過給出測試報告的形式與客戶進行溝通和反饋

一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素   厚度檢出限:0.005um

江蘇一六儀器        X射線熒光測厚儀工作原理    

     當原子受到X射線光子(原級X射線)或其他微觀粒子的激發使原子內層電子電離而出現空位，原子內層電子重新配位，較外層的電子躍遷到內層電子空位，并同時出次級X射線光子，此即X射線熒光。穩定的多道脈沖分析采集系統、先進的解譜方法和EFP算法結合精準定位及變焦結構設計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題。較外層電子躍遷到內層電子空位所釋放的能量等于兩電子能級的能量差，因此，X射線熒光的波長對不同元素是特征的，根據元素X射線熒光特征波長對元素做定性分析，根據元素釋放出來的熒光強度，來進行定量分析如元素厚度或含量分析。

   根據色散方式不同，X射線熒光分析儀相應分為X射線熒光光譜儀(波長色散)和X射線熒光能譜儀(能量色散)。X射線熒光光譜儀主要由激發、色散、探測、記錄及數據處理等單元組成。激發單元的作用是產生初級X射線。它由高壓發生器和X光管組成。后者功率較大，用水和油同時冷卻。色散單元的作用是分出想要波長的X射線。能量色散X射線熒光光譜分析相對其他分析方法，具有無需對樣品進行特別的化學處理、快速，方便，測量成本低等明顯優勢，特別適合用于各類相關企業作為過程控制和檢測使用。它由樣品室、狹縫、測角儀、分析晶體等部分組成。通過測角器以1∶2速度轉動分析晶體和探測器，可在不同的布拉格角位置上測得不同波長的X射線而作元素的定性分析。探測器的作用是將X射線光子能量轉化為電能，常用的有蓋格計數管、正比計數管、閃爍計數管、半導體探測器等。記錄單元由放大器、脈沖幅度分析器、顯示部分組成。通過定標器的脈沖分析信號可以直接輸入計算機，進行聯機處理而得到被測元素的含量。