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              3D形貌測(cè)量?jī)x生產(chǎn)廠家按需定制,盟訊電子有限公司

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              發(fā)布時(shí)間:2020-12-12 09:24  






              三維形貌測(cè)量系統(tǒng)

              可用于物體表面三維形貌和變形測(cè)量。由于該系統(tǒng)既可配備10倍變焦遠(yuǎn)距離顯微成像鏡頭,也可配備普通變焦鏡頭,使得該系統(tǒng)能同時(shí)滿足細(xì)觀及宏觀的測(cè)量要求。不僅可用于微電子、生物、微機(jī)械等微細(xì)結(jié)構(gòu)的形貌及變形測(cè)量,也可用于混凝土結(jié)構(gòu)、巖土試樣等大型構(gòu)件表面形貌和變形測(cè)量。系統(tǒng)配有專用的相移條紋圖像處理軟件,使得系統(tǒng)測(cè)量精度明顯提高,并且使用方便、操作簡(jiǎn)單。




               三維表面形貌儀是一款光學(xué)表面形貌儀,非常適合對(duì)表面幾何形狀和表面紋理分析,以標(biāo)準(zhǔn)方案或定制性方案對(duì)二維形貌或三維形貌表面形貌和表面紋理,微米和納米形狀,圓盤(pán),圓度,球度,臺(tái)階高度,距離,面積,角度和體積進(jìn)行多范圍測(cè)量。基于傅立葉變換的空間過(guò)濾工具使得高通、低通、通頻帶和帶阻能濾波器變的容易。多項(xiàng)式配置、數(shù)據(jù)配置、掃描、屏蔽和插值。交互縮放。X-Y和線段剖面。三維線路、混合和固定繪圖。采用白光軸向色差原理(性能優(yōu)于白光干涉輪廓儀與激光干涉輪廓儀)對(duì)樣品表面進(jìn)行快速、重復(fù)性高、高分辨率的三維測(cè)量,測(cè)量范圍可從納米級(jí)粗糙度到毫米級(jí)的表面形貌。


              一、三維表面形貌儀測(cè)量原理:低相干白光同時(shí)照射樣品和參考平面,被樣品和參考平面反射的兩束白光發(fā)生干涉后由陣列式CMOS探測(cè)器接收,由于探測(cè)器直接與信號(hào)處理芯片(Smart Pixel技術(shù))連接,所以陣列上每個(gè)像素點(diǎn)的信號(hào)都在芯片中完成鎖相放大,背景信號(hào)補(bǔ)償和結(jié)果計(jì)算輸出,成像于計(jì)算機(jī)就實(shí)現(xiàn)了樣品表面的快速三維形貌測(cè)量。    二、三維表面形貌儀技術(shù)特點(diǎn):    1、每秒一百萬(wàn)張二維圖像    2、無(wú)損表面形貌檢測(cè)和分析    3、高精度在線/離線檢測(cè)    4、模塊化設(shè)計(jì),超高集成靈活性    5、無(wú)需苛刻的工作環(huán)境(振動(dòng),噪聲,溫度等)    6、可應(yīng)用于科研和工業(yè)領(lǐng)域


              三維表面形貌儀應(yīng)用領(lǐng)域:      工業(yè):   食品安全在線檢測(cè)   微電子集成電路表面形貌在線檢測(cè)   印刷電路板品質(zhì)檢測(cè)   零件器件表面劃痕損傷檢測(cè)   微機(jī)械精加工質(zhì)量控制,如鐘表,微機(jī)械器件等   電子產(chǎn)品零件在線監(jiān)控,如手機(jī),筆記本電腦,平板等   微流體器件三維形貌檢測(cè)   在線檢測(cè)設(shè)備集成   證件防偽,安檢    科研:   MEMS器件   微機(jī)械零件表面形貌觀察和測(cè)量   微光學(xué)器件(太赫茲、紅外、微波、天線陣列)三維形貌表征   生命科學(xué):生物組織/生物體的 三維形貌測(cè)量   偵l查取證:表面劃痕觀察,微小證據(jù)三維形貌快速表征


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