您好,歡迎來到易龍商務(wù)網(wǎng)!
【廣告】
發(fā)布時間:2021-03-17 10:32  





扇入和扇出型封裝流程
這里需要說明的是,為提高晶圓級封裝的可靠性,目前存在多種焊球裝配工藝,其中包括氮化物層上焊球、聚合物層上焊球、銅柱晶圓級封裝等等。重點(diǎn)是RDL層/聚合物層上用UBM層裝配焊球的方法。以引腳分別為依據(jù)可以分為單邊引腳、雙邊引腳、四邊引腳、底部引腳等。扇入型標(biāo)準(zhǔn)封裝裸片是直接暴露于空氣中(裸片周圍無模壓復(fù)合物),人們擔(dān)心這種封裝非常容易受到外部風(fēng)險的影響。優(yōu)化晶片切割工藝是降低失效風(fēng)險的首要措施。

就封裝形式而言,它屬于已有封裝形式的派生品,因此可直接按照現(xiàn)有封裝形式分為四類:框架封裝形式、硬質(zhì)基板封裝形式、軟質(zhì)基板封裝形式和芯片級封裝。幾年之前封裝本體面積與芯片面積之比通常都是幾倍到幾十倍,但近幾年來有些公司在BGA、TSOP的基礎(chǔ)上加以改進(jìn)而使得封裝本體面積與芯片面積之比逐步減小到接近1的水平,所以就在原來的封裝名稱下冠以芯片級封裝以用來區(qū)別以前的封裝。封裝測試市場前景一片大好在收入方面,移動和消費(fèi)是個大的細(xì)分市場,2019年占封裝測試市場的85%,2019年至2025年,這一部分的復(fù)合年增長率將達(dá)到5。半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造、晶圓測試、芯片封裝和封裝后測試組成。也可稱為終段測試Final Test.在此之前,由于封裝成本較高整片晶元還必須經(jīng)過針測Probe Test。

WLCSP生產(chǎn)周期和成本大幅下降,芯片所需引腳數(shù)減少,提高了集成度;引腳產(chǎn)生的電磁干擾幾乎被消除,采用此封裝的內(nèi)存可以支持到800MHz的頻率,容量可達(dá)1GB,所以它號稱是未來封裝的主流。它的不足之處是芯片得不到足夠的保護(hù)。幾年之前封裝本體面積與芯片面積之比通常都是幾倍到幾十倍,但近幾年來有些公司在BGA、TSOP的基礎(chǔ)上加以改進(jìn)而使得封裝本體面積與芯片面積之比逐步減小到接近1的水平,所以就在原來的封裝名稱下冠以芯片級封裝以用來區(qū)別以前的封裝。氣派科技目前走的還是傳統(tǒng)封裝技術(shù)路線,降低成本可以說是非常重要了。多芯片模塊具有以下特點(diǎn):封裝密度更高,電性能更好,與等效的單芯片封裝相比體積更小。如果采用傳統(tǒng)的單個芯片封裝的形式分別焊接在印刷電路板上,則芯片之間布線引起的信號傳輸延遲就顯得非常嚴(yán)重,尤其是在高頻電路中,而此封裝優(yōu)點(diǎn)就是縮短芯片之間的布線長度,從而達(dá)到縮短延遲時間、易于實(shí)現(xiàn)模塊高速化的目的。
