晶振型號(hào)承諾守信

KOAN 高穩(wěn)恒溫晶振 SC 切晶體之優(yōu)點(diǎn)

a) 開(kāi)機(jī)特性好，SC 切諧振器的熱過(guò)沖比 AT 切晶體諧振器約小兩個(gè)數(shù)量級(jí)，因此 SC 切晶體振蕩器加電后能很快達(dá)到頻率穩(wěn)定；

b) 老化小，SC 切晶體的應(yīng)力效應(yīng)很小，由應(yīng)力馳豫引起的老化也小；

c) 幅頻效應(yīng)小，SC 切晶振的幅頻效應(yīng)大約是 AT 切晶振的一半，因此 SC

切晶體的激勵(lì)電平可比 AT 切晶體大一個(gè)數(shù)量級(jí)，老化不會(huì)增加；

d) 恒溫晶振 SC 切短期頻率穩(wěn)定性，抗輻射，抗加速度都非常好。

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KOAN 恒溫晶振的開(kāi)機(jī)特性（頻率穩(wěn)定預(yù)熱時(shí)間）

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指開(kāi)機(jī)后一段時(shí)間(如 5 分鐘)的頻率到開(kāi)機(jī)后另一段時(shí)間(如 1 小時(shí))的頻率的變化率。表示了晶振達(dá)到穩(wěn)定的速度。這指標(biāo)對(duì)經(jīng)常開(kāi)關(guān)的儀器如頻率計(jì)等很有用。在多數(shù)應(yīng)用中，晶體振蕩器是長(zhǎng)期加電的，然而在某些應(yīng)用中晶體振蕩器需要頻繁的開(kāi)機(jī)和關(guān)機(jī)，這時(shí)頻率穩(wěn)定預(yù)熱時(shí)間指標(biāo)需要被考慮到（尤其是對(duì)于在苛刻環(huán)境中使用的通訊電臺(tái)，當(dāng)要求頻率溫度穩(wěn)定度≤0.3ppm(-45℃～85℃)，采用 OCXO 作為本振，頻率穩(wěn)定預(yù)熱時(shí)間將不少于 5分鐘。

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KOAN 溫補(bǔ)晶振和恒溫晶振的頻率老化率對(duì)比

說(shuō)明： TCXO 的頻率老化率為： ±0.2ppm～±2ppm （首年）和±1ppm～±5ppm （十年） （除特殊情況，TCXO 很少采用每天頻率老化率的指標(biāo)，因?yàn)榧词乖趯?shí)驗(yàn)室的條件下，溫度變化引起的頻率變化也將大大超過(guò)溫度補(bǔ)償晶體振蕩器每天的頻率老化，因此這個(gè)指標(biāo)失去了實(shí)際的意義）。OCXO 的頻率老化率為： ±0.5ppb～±10ppb/天（加電 72 小時(shí)后），±30ppb～±2ppm（首年），±0.3ppm～±3ppm（十年）。

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影響 KOAN 恒溫晶振頻率漂移（老化）的主要機(jī)理

1) 引起晶振頻率漂移的是石英諧振器的參數(shù)，動(dòng)態(tài)電容和動(dòng)態(tài)電感隨時(shí)間而變化；

2) 加在石英片的機(jī)械應(yīng)力變化引起的頻率漂移，稱(chēng)為馳豫效應(yīng)；

3) 晶片表面污染和或封裝盒內(nèi)部污染也是造成諧振器老化的一個(gè)重要原因；

4) 流過(guò)諧振器激勵(lì)電流的大小對(duì)老化率有影響；

5) 振蕩電路和恒溫控制電路中有源和無(wú)源元件的老化也會(huì)影響振蕩頻率的老化率。

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