OPTM反射率測試信息推薦

頭部集成了薄膜厚度測量所需功能

通過顯微光譜法測量高i精度絕i對反射率（多層膜厚度，光學常數）

1點1秒高速測量

顯微分光下廣范圍的光學系統（紫外至近紅外）

區域傳感器的安全機制

易于分析向導，初學者也能夠進行光學常數分析

獨立測量頭對應各種inline客制化需求

支持各種自定義

測量項目：

絕i對反射率測量

多層膜解析

光學常數分析（n：折射率，k：消光系數）

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

　膜厚儀廠家解釋凡其厚度與入射光波長相比擬的并能引起干涉現象(相干光程小于相干長度)的膜層為薄膜，其厚度遠大于入射光波波長的膜層稱之為厚膜。如今，微電子薄膜，光學薄膜，抗1氧化薄膜，巨磁電阻薄膜，高溫超導薄膜等在工業生產和人類生活中的不斷應用，在工業生產的薄膜，其厚度是一個非常重要的參數，直接關系到該薄膜材料能否正常工作。

1.膜厚測試儀出現下列情況，必需重新校準。　　·校準時，輸入了一個錯誤值；　　·操作錯誤。　　2.在直接方式下，如果輸入了錯誤的校準值，應緊接著做一次測量，隨后再做一次校準，即可獲取新值消除錯誤值。　　3.每一組單元中，只能有一個校準值?！　?.零點校準和二點校準都可以重復多次，以獲得更為精準的校準值，提高測量精度但此過程中一旦有過一次測量，則校準過程便告結束。

膜厚儀是一種比較精密的監測設備，它在平時的使用中對于精準度的要求很高，但是還是會有誤差的現象發生，除了儀器本身的一些故障以外，環境因素也是造成誤差的一大“元兇”。