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發(fā)布時(shí)間:2020-11-01 10:55  





芯片檢測(cè)顯微鏡的適用范圍
芯片檢測(cè)顯微鏡適用于對(duì)不透明物體的進(jìn)行顯微觀察。配置大移動(dòng)范圍的機(jī)械式載物臺(tái)、落射照明器、內(nèi)置偏光觀察裝置,具有圖像清晰、襯度好,造型美觀,操作方便等特點(diǎn),是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。適用于學(xué)校、科研、工廠等部門使用。
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芯片檢測(cè)顯微鏡——原理介紹
顯微鏡將圖像通過(guò)攝像系統(tǒng),把微觀圖像轉(zhuǎn)換為視頻信號(hào)輸入到彩色電視機(jī)上進(jìn)行圖像顯示。若選購(gòu)配置彩色攝像機(jī)或攝影照相裝置,還可以進(jìn)行圖像記錄,便于資料長(zhǎng)久保存和隨時(shí)再現(xiàn)圖像。本產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)光、機(jī)、電、一體化,同時(shí)具有操作簡(jiǎn)單,使用方便之特點(diǎn)。可供多人觀察、討論研究、分析。廣泛用于高等院校、研究院所、衛(wèi)生醫(yī)院機(jī)構(gòu)等作科研、教學(xué)之用。
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