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發布時間：2020-07-19 02:09
數字IC設計流程
1、需求分析與規格制定
對市場調研，弄清需要什么樣功能的芯片。
芯片規格，也就像功能列表一樣，是客戶向芯片設計公司提出的設計要求，包括芯片需要達到的具體功能和性能方面的要求。
2、架構設計與算法設計
根據客戶提出的規格要求，對一些功能進行算法設計，拿出設計解決方案和具體實現架構，劃分模塊功能。
3、HDL編碼
使用硬件描述語言（VHDL，Verilog HDL）分模塊以代碼來描述實現，RTL coding，linux環境下一般用Gvim作為代碼編輯器。
4、功能
驗證就是檢驗編碼設計的正確性。不符合規格要重新設計和編碼。設計和驗證是反復迭代的過程，直到驗證結果顯示完全符合規格標準。該部分稱為前。
5、邏輯綜合――Design Compiler
驗證通過，進行邏輯綜合。邏輯綜合就是把HDL代碼翻譯成門級網表netlist。
綜合需要設定約束條件，就是你希望綜合出來的電路在面積，時序等目標參數上達到的標準。然而，在230℃~260℃的范圍中的無鉛工藝里，任何濕度的存在都能夠形成足夠導致破壞封裝的小（爆米花狀）或材料分層。邏輯綜合需要基于特定的綜合庫，不同的庫中，門電路基本標準單元（standard cell）的面積，時序參數是不一樣的。所以，綜合庫不一樣，綜合出來的電路在時序，面積上是有差異的。一般來說，綜合完成后需要再次做驗證（這個也稱為后）
邏輯綜合工具：Synopsys的Design Compiler，工具選擇上面的三種工具均可。
6、靜態時序分析——STA
Static Timing Analysis（STA），靜態時序分析，驗證范疇，它主要是在時序上對電路進行驗證，檢查電路是否存在建立時間（setup time）和保持時間（hold time）的違例（violation）。主要的工具有：LEDALEDA是可編程的語法和設計規范檢查工具，它能夠對全芯片的VHDL和Verilog描述、或者兩者混合描述進行檢查，加速SoC的設計流程。這個是數字電路基礎知識，一個寄存器出現這兩個時序違例時，是沒有辦法正確采樣數據和輸出數據的，所以以寄存器為基礎的數字芯片功能肯定會出現問題。
IC產品的質量解說
質量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以說是IC 產品的生命，好的品質，長久的耐力往往就是一顆IC產品的競爭力所在。芯片組，則是一系列相互關聯的芯片組合，它們相互依賴，組合在一起能發揮更大的作用，比如計算機里面的處理器和南北橋芯片組，手機里面的射頻、基帶和電源管理芯片組。在做產品驗證時我們往往會遇到三個問題，驗證什么，如何去驗證，哪里去驗證，這就是what, how , where 的問題了。解決了這三個問題，質量和可靠性就有了保證，制造商才可以大量地將產品推向市場，客戶才可以放心地使用產品。現將目前較為流行的測試方法加以簡單歸類和闡述，力求達到拋磚引玉的作用。
質量（Quality） 就是產品性能的測量，它回答了一個產品是否合乎規格（SPEC）的要求，是否符合各項性能指標的問題；可靠性（Reliability）則是對產品耐久力的測量，它回答了一個產品生命周期有多長，簡單說，它能用多久的問題。深圳瑞泰威科技有限公司是國內IC電子元器件的代理銷售企業，專業從事各類驅動IC、存儲IC、傳感器IC、觸摸IC銷售，品類齊全，具備上百個型號。所以說質量（Quality）解決的是現階段的問題，可靠性（Reliability）解決的是一段時間以后的問題。知道了兩者的區別，我們發現，Quality 的問題解決方法往往比較直接，設計和制造單位在產品生產出來后，通過簡單的測試，就可以知道產品的性能是否達到SPEC 的要求，這種測試在IC的設計和制造單位就可以進行。相對而言，Reliability 的問題似乎就變的十分棘手，這個產品能用多久，who knows? 誰會能保證今天產品能用，明天就一定能用？為了解決這個問題，人們制定了各種各樣的標準.
數字IC測試
隨著Internet的普及,遠程教育在我國已有了很大的發展,尤其是CAI課件以及一些教學交互的軟件的研究已有相當的程度。如果你用的是PC Astro那你可用write_milkway,read_milkway傳遞數據。然而遠程實驗的發展卻大大落后,這是由于不同領域實驗的遠程化需要研究不同的實現方法。 在本文中首先闡述了一種高校電子信息類專業數字邏輯以及現代可編程器件(FPGA/CPLD)等課程的遠程實驗系統,在這個系統中使用遠程測試(數字IC測試)來實現實實在在的硬件實驗,使得這個系統不同于純軟件的。
接著敘述了該實驗系統中虛擬實驗環境軟件和實驗服務提供端的數字IC測試系統的設計。AstroalsoincludeLVS/DRCcheckcommands。虛擬實驗環境軟件提供一個可靈活配置、形象直觀的實驗界面,這個界面為使用者提供了實驗的感性認識。數字IC測試系統完成實際實驗:提供激勵并測試響應。本文敘述的數字IC測試系統可對多達96通道的可編程器件進行實驗,另外它還作為面向維修的測試儀器,具有在線測試、連線測試、V-I測試、施加上拉電阻、調節門檻比較電平等功能。
數字系統實時驗證
在利用MP3C硬件平臺的基礎上搭建驗證平臺來實現對數字系統的驗證,根據該系統的特點,完成了軟硬件驗證平臺的構建和軟件的配置。芯片組的識別也非常容易，以Intel440BX芯片組為例，它的北橋芯片是Intel82443BX芯片，通常在主板上靠近CPU插槽的位置，由于芯片的發熱量較高，在這塊芯片上裝有散熱片。該驗證系統主要是由APTIX MP3C系統、Spartan-IIE FPGA和相應的EDA軟件等組成。 主要對驗證的整體方案以及系統各個模塊的功能和實現進行了深入的分析。介紹了IC設計的流程和IC驗證的重要性;并對MP3C的FPCB和FPIC等模塊以及Spartan-IIE開發板的FPGA、I/O和接口等模塊的性能和使用方法進行了詳細說明。
然后提出了以MP3C為核心的快速數字系統驗證的硬件平臺實現方法,其中激勵產生和數據采集觀察是通過在一塊評估板中來實現;在EXPLORER軟件中完成整個系統的搭建、FPGA的布局布線和FPCB的編譯。芯片一般是指集成電路的載體，也是集成電路經過設計、制造、封裝、測試后的結果，通常是一個可以立即使用的獨立的整體。并且根據這一方法實現了對復雜數字系統FFT進行驗證,后得出了正確的結果,證明這一方法是切實有效的。此方法能縮短IC開發周期,提高IC驗證的效率,對將來IC發展來說很具有實際意義。
