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影響膜厚測量儀的因素

基體金屬電性質

基體金屬的導電性對測量有影響，而基體金屬的導電性與材料成分和熱處理方法有關。使用與樣品金屬具有相同性質的標準膜校準儀器。

基體金屬厚度

每個儀器具有賤金屬的臨界厚度。大于此厚度，測量不受基體金屬厚度的影響。

曲率

試樣的曲率對測量有影響。這種效應總是隨著曲率半徑的減小而增加。因此，測量彎曲試樣的表面是不可靠的。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

厚度測量儀主要用于測試產品的厚度。要知道，有些產品很薄，肉眼看不到，所以有可能知道設備的工作是多么精細。如果使用中有輕微的偏差，測試結果將是非常不同的。因此，在使用該設備時，首先要注意校準工作，把產品放在準確的位置，并測量準確的數據。

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膜厚測量儀校準方式

儀器較零

1.測量鐵基上的探針壓力（或沒有涂層測量體）。滄州歐洲頻譜，并按下零鍵零到零。壓零鍵時，不要將測量探頭搖晃在鐵基上。同時，我們必須注意，只有在按下零鍵之后才能拾起探頭，否則，校準誤差是不正確的。

2.取測量探頭（或不加測量體上的涂層），觀察鐵基體上的測量值，如果測量值接近0，則顯示零校正成功，否則將獲得新零。

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