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芯片檢測顯微鏡的應用特點

老上光儀器廠——專業芯片檢測顯微鏡供應商，我們為您帶來以下信息。

集成電路在研制、生產和使用過程中失效不可避免，隨著人們對芯片產品質量和可靠性要求的不斷提高，失效分析工作也顯得越來越重要，通過芯片檢測顯微鏡對集成電路失效分析，可以幫助集成電路設計人員找到設計上的缺陷、工藝參數的不匹配或設計與操作中的不當等問題。

芯片檢測顯微鏡——廠家介紹

老上光儀器廠擁有一支專業從事顯微儀器應用技術研究，新產品新技術開發的工程技術團隊，在傳統光學顯微成像技術上融入了攝像計算機分析系統，不斷地開發出能滿足生物、科研教學、機械制造、電子材料、紡織纖維、地質礦產、石油化工、航空航天、計量科學、農林牧漁等幾乎所有應用領域進行研究分析的新產品和新技術。

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芯片檢測顯微鏡的特點

配有帶屈光補償的棱鏡型雙目鏡筒。能調節左右目鏡的屈光度。這種設計使得在調節瞳距時，物鏡的齊焦面保持不變，即使更換不同倍率的物鏡，也只需做少量的調焦。目鏡圈由橡皮制成，以便更舒適的觀察。

高質量的多孔轉換器內部設有機械定位。此設計使旋轉更平滑，也增強了耐用性。同時，轉換器周圈帶有突楞，使得旋轉更加方便，無需觸及物鏡。

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