粒徑儀廠家優選企業

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

目前市場上的分析儀器不僅靈敏度和選擇性有了很大的提高，同時分析儀器更走向了微型化、智能化、網絡化、專用化。此外現場的、實時在線的分析檢測儀技術也都取得了很好的突破。測量儀器逐漸進入數字化，使得示波器成為了電子電器工程中必不可少的工具。生命科學領域的蓬勃發展又讓色譜、光譜等傳統分析儀器恢復了活力。

顆粒大小與激光粒度分析儀

激光粒度分析儀

　　儀器分類

　　?靜態激光

　　能譜是穩定的空間分布。主要適用于微米級顆粒的測試，經過改進也可將測量下限擴展到幾十納米。

　　?動態激光

　　根據顆粒布朗運動的快慢，通過檢測某一個或二個散射角的動態光散射信號分析納米顆粒大小，能譜是隨時間高速變化。動態光散射原理的粒度儀僅適用于納米級顆粒的測試。

激光粒度分析儀原理光在傳播中，波前受到與波長尺度相當的隙孔或顆粒的限制，以受限波前處各元波為源的發射在空間干涉而產生衍射和散射，衍射和散射的光能的空間（角度）分布與光波波長和隙孔或顆粒的尺度有關。