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發(fā)布時間:2021-03-07 06:39  






貴金屬無損分析儀
以下是北京京國藝科技發(fā)展有限公司為您一起分享的內容,北京京國藝科技發(fā)展有限公司專業(yè)生產貴金屬分析儀,歡迎新老客戶蒞臨。
貴金屬無損分析儀,包括兩種類型的儀器,一種是根據金屬密度來粗略估算貴金屬純度的水比重分析儀,另外一種是利用熒光光譜來分析純度的光譜分析儀。除了能夠檢測貴金屬外,他還可以檢測有害物質和鍍層厚度,功能強大。由于比重儀精度低,而自然界與貴金屬密度相接近的金屬很多,所以,當今的珠寶界,水比重分析儀基本遭到了市場的摒棄。在此,重點介紹光譜貴金屬分析儀。
光譜貴金屬分析儀享有無損、快速等特點,被廣泛用于首飾生產、加工、銷售、質檢等部門。{精}{長}GY-MARS/T6600Ⅱ型光譜測金儀是GY-MARS/T6600升級型產品,是測金儀中的旗艦機。隨著貴金屬行業(yè)的蓬勃發(fā)展,貴金屬的業(yè)務日益增加,給貴金屬行業(yè)帶來效益的同時我們對產品的工藝,含量的控制越來越需要準確。近年來由于加工工藝不斷提高,各種貴金屬在市場流通的越來越多。
儀器概述
以下內容由北京京國藝科技發(fā)展有限公司為您提供,希望對同行業(yè)的朋友有所幫助。
GY-MARS/T 86型 貴金屬分析儀是貴金屬分析儀中的經濟型產品。可實現貴金屬及雜質檢測。該產品可應用于金廠、金店、典當等行業(yè)。
儀器采用了正比計數氣體探測器,效率為15%,能檢測被測物中的貴重金屬及雜質元素。配合來自中科院高能物理研究所的信號處理器、模數轉換器和高壓發(fā)生器,具有高靈敏性、穩(wěn)定性和準確性等特點,可完全滿足貴金屬檢測的要求。
貴金屬檢測儀
GY-MARS/T系列是一種體現X 射線熒光分析技術進展的能量色散X 射線熒光光譜儀。這里所說的服務不僅指安裝調試、備品備件供應、維修服務等,更重要的是應用技術服務。它采用光管為激發(fā)源,高分辨率電制冷Si-pin / SDD半導體探測器為傳感器,多種準直器與濾波片,再加上我公司專門開發(fā)的應用軟件,充分發(fā)揮各部件的優(yōu)異性能,保證了整臺儀器的高分辨率及通用適應性。任何需要多元素同時分析的地方,正是它大有作為之處。
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光譜儀的保護措施
1. 結構保護:儀器進行了鉛屏蔽處理,結構采用迷宮設計,有效防止X熒光的外泄。根據環(huán)保局檢測結果,儀器在工作狀態(tài)下,周邊輻射劑量率幾乎與天然本底一致,已取得環(huán)保局豁免。
2. 警示保護:儀器使用了警示裝置,儀器內部產生X熒光時,高壓指示燈亮,提醒操作人員不要開啟測量倉。
3. 距離保護:通過軟件遠程控制高壓開啟,儀器工作狀態(tài)下,不必近距離接觸儀器。保證了操作員和儀器的空間距離。
4. 誤操作保護:儀器內部產生X熒光時,如果操作人員誤操作打開測量倉,儀器會自動斷電,停止產生X熒光。
通過以上四個保護措施,可以有效保障操作人員的操作安全。
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