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發布時間:2020-11-10 09:21  
大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢!
基本規格
(1) 測試樣品及環境
(a) 樣品:粉狀樣品
(2) 儀器的功能
(a) 激發熒光樣品,對熒光光譜進行測試。
(b) 為了消除積分球內反射的激發光而激發的熒光,配有“再激發修正”功能。
(c) 具有對樣品的量子效率、反射、吸收作測試的功能。
(d) 樣品設置采用手動方式。
(e) 可實現控溫和量子效率測試同步進行的功能。
(3) 儀器的構成
(a) 暗箱內部置有積分球光學系統。
(4) 溫控單元
(a) 50 ℃~300℃(cell部分)
(b) 采用加熱器加熱、風冷制冷。
(c) 溫控部分的周圍采用冷卻水循環、斷熱。
(d) 控制用溫度探頭是一個具備獨立的防止過度升溫的溫度探頭。
關于冷卻水的更換沒有特定的時間要求,可目視,發現水有污垢時請更換冷卻水。更換時請用自來水或是軟水(不可使用純水,如使用純水,會和空氣中的CO2結合形成酸性環境,從而導致冷卻裝置內部遭到腐蝕)。
產品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現性量測紫外到近紅外波長反射率光譜,分析多層薄膜厚度、光學常數(n:折射率、k:消光系數)。
應用范圍■ FPD
?LCD、TFT、OLED(有機EL)
■ 半導體、復合半導體
?矽半導體、半導體雷射、強誘電、介電常數材料
■ 資料儲存
?DVD、磁頭薄膜、磁性材料
■ 光學材料
?濾光片、抗反射膜
■ 平面顯示器
?液晶顯示器、薄膜電晶體、OLED
■ 薄膜
?AR膜
■ 其它
?建筑用材料
原理為:利用單色儀和氙燈的組合可實現任意波段的激發光并以此來照射熒光材料樣品,再以光譜儀對產生的發光光譜進行測試并對其熒光材料特性做出評價。本系統采用了具有高靈敏度、高穩定的本公司的光譜儀對光譜進行測量。