青島熒光測厚儀值得信賴

一六儀器-------鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃層膜厚儀

X射線測厚儀測量精度的影響因素有哪些

首先,是X射線的高壓控制箱會對測量的精度造成一定的影響。X射線測厚儀的測量原理就是通過施加高壓電源出X射線,通過X射線的穿透物體時的衰減量來測量被測物體的厚度。但是高壓控制箱的安裝位置會對測厚儀的準確度造成一定的影響。安裝的位置不當就會使測量的精度不準確波動比較明顯。另外,X射線本身的衰減也會影響測厚儀的測量精度。鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃層膜厚儀---一六儀器歡迎咨詢聯系X射線熒光是由原級X射線照射待測樣品時所產生的次級X射線，入射的X射線具有相對較大的能量，使其可以轟擊出位于元素原子內層中的電子。

一六儀器---鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃層膜厚儀

儀器規格：

 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （長x寬x高）

 樣品倉尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （長x寬x高）

 儀器重量 ：55kg

 供電電源 ：交流220±5V

 da功率 ：330W

 環境溫度：15℃-30℃

 環境相對濕度：<70%

第四,在生產過程中,補償值也會對X射線測厚儀的測量精度造成影響。我們利用測厚儀測量是,會事先給測厚儀輸入一個補償值,讓測量值與實際值相等。在這個過程中,操作者首先對板材進行測量,但是操作者使用量尺的方式不同,就會造成補償值的大小不等,會形成人為的誤差。只有在進行測量時,操作者認真操作,減少補償值得測算誤差,使補償值接近真實值,提高X射線測厚儀的測量精度。如何安裝X射線測厚儀2)C型架按運行軌跡定位，并作感觀質量檢查。 

X射線熒光的基本原理

一六儀器X射線熒光測厚儀 研發生產廠家 品質保證

江蘇一六儀器有限公司研發的能量色散X熒光光譜儀具有穩定的多道脈沖分析采集系統、先進的解譜方法和EFP算法結合精準定位及變焦結構設計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析，歡迎來電咨詢！

當X射線激發出試樣特征X射線時，其入射電磁輻射能量必須大于某一個值才能引起其內層電子激發態從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個值是吸收限，相當于內層電子的功函數。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發原子內層電子并產生特征X射線。第四,在生產過程中,補償值也會對X射線測厚儀的測量精度造成影響。

X射線的激發

   如果要得到某元素的特征X射線，需要對元素原子內層電子進行激發，使得內層電子獲得一定能量，能夠脫離原子核的束縛，從而在內層軌道形成電子空穴，當較高能級電子填補這一空穴時，才會發射一定能量的特征X射線，這個過程就是X射線的激發。