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發布時間：2020-10-09 10:14
一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um
xiao測量面積0.002m㎡ 深凹槽20mm以上鍍層厚度分析儀測量原理與儀器
一． 磁吸力測量原理鍍層厚度分析儀
磁鐵（測頭）與導磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關系，這個距離就是覆層的厚度。X射線波長色散型光譜儀一般有光源（X-射線管）、樣品室分光晶體和檢測系統等組成。利用這一原理制成測厚儀，只要覆層與基材的導磁率之差足夠大，就可進行測量。鑒于大多數工業品采用結構鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型，所以磁性測厚儀應用廣。測厚儀基本結構由磁鋼，接力簧，標尺及自停機構組成。磁鋼與被測物吸合后，將測量簧在其后逐漸拉長，拉力逐漸增大。當拉力剛好大于吸力，磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產品可以自動完成這一記錄過程。不同的型號有不同的量程與適用場合。這種儀器的特點是操作簡便、堅固耐用、不用電源，測量前無須校準，價格也較低，很適合車間做現場質量控制。
二． 磁感應測量原理鍍層厚度分析儀
采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。X-RAY測厚儀特點1，價格高，機種不同，價格在10萬~100萬左右，可測試P（磷）~U（鈾），并且支持Rohs及元素分析功能等。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術，利用磁阻來調制測量信號。還采用專利設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現性有了大幅度的提高（幾乎達一個數量級）。現代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10mm。磁性原理測厚儀可應用來測量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業的各種防腐涂層。
三． 電渦流測量原理鍍層厚度分析儀
高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。任選靶材：W、Mo、Ag等X射線管：管電壓50KV，管電流1mA可測元素：CI～U檢測器：正比計數管樣品觀察：CCD攝像頭測定軟件：薄膜FP法、檢量線法Z軸程控移動高度20mm。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較，主要區別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。
采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。X射線熒光光譜分析可以非破壞性同時完成組分和厚度測試，厚度的測量范圍視材料和元素而定，通常在1nm-50um之間。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導電體，但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適。
一六儀器 專業測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法 X射線熒光鍍層測厚儀
應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題
一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005umxiao測量面積0.002m㎡ 深凹槽20mm以上
鍍層厚度分析儀使用注意事項
1．儀器供電電壓必須與儀器銘牌上的電壓一致。儀器必須使用三線插頭連到一個已接地的插座上。
2．鍍層厚度分析儀為精密儀器，建議配備的穩壓電源。計算機和儀器應配備不間斷電源（UPS）。
3．鍍層厚度分析儀應特別注意與存在電磁的場合隔離開來。
4．儀器適合在10~40℃（50~104℉）的環境溫度下操作使用，在0~50℃（32~122℉）的溫度下存放。操作和存放的允許濕度范圍在0~65%之間（非冷凝）。在操作過程中，環境溫度和濕度應保持恒定。
5．儀器曝曬在陽光下時溫度極易超過50℃。所以請不要在這樣的環境下操作和存放儀器，以避免高溫對儀器造成損害。
6．為避免短路，嚴禁儀器與液體直接接觸。如果液體進入儀器，請立刻關閉儀器并在重新使用前請技術人員整體檢查儀器。
7．鍍層厚度分析儀不能用于酸性環境和場合。
8．不要弄臟和刮擦元素片或調校標準片，否則會造成讀數錯誤。
9．不要用任何機械或化學的方法清除元素片或調校標準片上的污物。如果必要的話，可以用一塊不起毛的布輕輕擦除臟物。
江蘇一六儀器 X熒光鍍層測厚儀 一六儀器、一liu品質!各種涂鍍層、膜層的檢測難題歡迎咨詢聯系！
1X射線激發系統垂直上照式X射線光學系統空冷式微聚焦型X射線管，Be窗標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV，0-1.0mA)-標準75W(4-50kV，0-1.5mA)-任選X射線管功率可編程控制裝備有安全防射線光閘
2濾光片程控交換系統根據靶材，標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統二次X射線濾光片:3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創探測器窗口
3準直器程控交換系統多可同時裝配6種規格的準直器，程序交換控制多種規格尺寸準直器任選:-圓形，如4、6、8、12、20mil等-矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時，測量斑點尺寸小至為:0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm準直器)在12.7mm聚焦距離時，測量斑點尺寸大至為:0.38x0.42mm(使用0.3mm準直器)
5X射線探測系統封氣正比計數器裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
6樣品室CMI900CMI950-樣品室結構開槽式樣品室開閉式樣品室-樣品臺尺寸610mmx610mm300mmx300mm-XY軸程控移動范圍標準:152.4x177.8mm任選:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-Z軸程控移動高度43.18mmXYZ程控時，152.4mmXY軸手動時，269.2mm-XYZ三軸控制方式多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
江蘇一六儀器 X射線熒光鍍層測厚儀 元素分析范圍：氯（CI）- 鈾（U）
厚度分析范圍：各種元素及有機物
x射線熒光鍍層測厚儀（國產）是一款針對金屬電鍍層（鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫等）厚度的，通過X熒光照射出產品，每個元素反射出的二次特征譜線，通過檢測器分析出強度來金屬鍍層的厚度，完全達到無損、快速分析的效果，產品廣泛應用于電子電器、五金工具、電鍍企業（鋁平行管、電鍍五金），連接器企業、開關企業等。根據色散方式不同，X射線熒光分析儀相應分為X射線熒光光譜儀(波長色散)和X射線熒光能譜儀(能量色散)。
x射線熒光鍍層測厚儀性能優勢
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
minimum φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點x射線熒光鍍層測厚儀技術參數
一次可同時分析多達五層鍍層
度適應范圍為15℃至30℃
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
分析含量一般為2ppm到99.9%
