進口粒徑儀常用指南 蘇州大塚電子有限公司

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

顆粒大小與激光粒度分析儀

激光粒度分析儀

　　儀器分類

　　?靜態激光

　　能譜是穩定的空間分布。主要適用于微米級顆粒的測試，經過改進也可將測量下限擴展到幾十納米。

　　?動態激光

　　根據顆粒布朗運動的快慢，通過檢測某一個或二個散射角的動態光散射信號分析納米顆粒大小，能譜是隨時間高速變化。動態光散射原理的粒度儀僅適用于納米級顆粒的測試。

激光粒度儀的測量原理要求在測試過程中，樣品的濃度以樣品中顆粒之間相互不發生二次散射為原則，理論上就是要求懸浮液或者空氣中顆粒之間的距離為顆粒直徑的3倍,但是這個要求非常難以掌握，因此在實際的粒度測試中，通過調整遮光比的數值來盡量保證顆粒之間不發生二次散射。

應用范圍■ 涂料行業粒徑測試

■ 食品行業中牛奶粒徑測試

■ 石化行業中催化劑粒徑測試

■ 4非金屬礦物粉體工業中粒徑測試

激光粒度分析儀原理光在傳播中，波前受到與波長尺度相當的隙孔或顆粒的限制，以受限波前處各元波為源的發射在空間干涉而產生衍射和散射，衍射和散射的光能的空間（角度）分布與光波波長和隙孔或顆粒的尺度有關。