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ICP光譜儀如何保養？

ICP光譜儀的氣體控制系統的維護，首先要做氣體試驗，打開氣體控制系統的電源開關，使電磁閥處于工作狀態，然后開啟氣瓶及減壓閥，使氣體壓力指示在額定值上，然后關閉氣瓶，觀察減壓閥上的壓力表 指針，應在幾個小時內沒有下降或下降很少，否則氣路中有漏氣現象，需要檢查和排除。在測定完樣品后，特別是測定高鹽溶液之后，的頂部以及炬管噴嘴都會有積鹽份，會造成氣溶膠的通道不暢，—般是出現檢測出來的元素強度下降，儀器反射功率升高等，當儀器提示運行光學初始化時，須先做光學初始化。

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ICP光譜儀高溫灰化法是什么？

ICP光譜儀制樣中灰化分解法是指在高溫電阻爐中，加熱試料至(400~550）℃，使試料灰化后，再用酸溶解法。電器元件受潮后會降低絕緣性能，可用熱吹風吹干，禁止貿然使用，否則會擊穿電器元件發生短路造成光譜分析儀電路系統被燒毀。比如灰化分解食品、塑料、有機物粉末等試料，其具有短時間分解、同時處理多個試料、試劑用量少、操作簡單等特點。該法對低沸點和容易揮發的元素Hg、As、Se、Te、Sb的測定個適用。干法灰化分解法還可分為高溫灰化法和低溫灰化法。

高溫灰化法是指灰化溫度高于100℃的灰化分解方法，是一種經典的化學分析前處理方法，它對于破壞生化、環境和食品等試料中的有機基體是行之有效的，該法實際上就是在高溫F(用馬弗爐或者高溫爐)氧化分解試料的方法。光學多道分析儀OMA是近十幾年出現的采用光子探測器(CCD)和計算機控制的新型光譜分析儀器，它集信息采集，處理，存儲諸功能于一體。試料一般先經（100~105）℃干燥（放人a堆蝸或陶瓷用鍋），除去水分及揮發物質，準確稱重放入高溫電阻爐中，灰化溫度一般設置在基體和空氣中的氧氣發生反應，直到所有有機物徹底分解成二氧化碳、水和其他易揮發的物，留下不揮發的金屬氧化物、非揮發性硫酸鹽、磷酸鹽和硅酸鹽等無機殘留物。殘留物用蔽溶解后，移入容量瓶定容待分析。

該技術主要優點是：可以同時處理大批試料并且用少量的酸等解殘留物；灰化后的殘留物完全游離于有機物外并無試劑玷污，空白低；試料基體被大是減少；方法簡單，適用于試料中金屬氧化物的測定。

ICP光譜儀之氣體控制系統的維護保養

今天ICP光譜儀小編和您分享，ICP光譜儀對氣體控制系統的維護保養，一起來了解。

ICP光譜儀氣體控制系統主要有凈化裝置和氣體流量控制裝置，有的還有制冷裝置。砂紙一定不要被高合金含量的樣品污染（例如：應該先用于低合金樣品，再用于高合金樣品）。系統是否穩定正常的運行將關系到儀器測定數據的重現性和再現性，嚴重時影響儀器的使用壽命，因此該系統維護保養是至關重要的。對于凈化裝置檢查操作者要觀察干燥劑是否變色(檢查周期為1個月~2個月)，如果出現干燥劑變色，必須小心地將干燥管拆卸下來在120°C烘箱內烘干(8~12)h，干燥劑顏色回復原色即可安裝使用;如果沒有恢復原色，說明干燥劑失效，建議更換干燥劑;特別注意是，有的儀器干燥管安裝在隱蔽地方，操作不宜觀察和操作，對于這種ICP光譜儀，操作者應該請儀器制造廠家人員來操作。

對于氣體流量控制裝置要定期(一般半年)檢查塑膠管路是否老化泄漏，管路接頭是否漏氣，氣體流量計和氣壓指針是否正常;如果聽到管路泄氣的聲音，必須檢測塑膠管子和各個接口，檢查漏點的方法是：用洗滌劑水滴加載塑膠管和各個接頭上，看是否產生大氣泡來確定漏點。因此光譜設備相對傳統化學分析方法，是金屬冶煉，鑄造等行業的更好選擇。漏點確定后，根據漏點位置決定更換塑膠管或者給管路接頭纏生料帶來解決漏點問題;在檢查氣體管道時，還要注意氣體管道接入進樣系統時，各個載氣管道連接塑膠管長短要適應，管子太長容易形成彎曲影響氣體流量穩定，氣體形成脈動影響數據;對于制冷裝置應該經常清洗過濾網積灰，和定期更換水冷卻，保證制冷劑正常運行，以上工作可由操作者完成，除此之外，氣體流量計、氣壓表和電磁閥也應該檢測，如果出現故障應該由本單位專業維護人員及時更換。

以上就是ICP光譜儀對氣體控制系統的維護保養，如果您還有什么關于ICP光譜儀的問題歡迎聯系ICP光譜儀小編。

ICP光譜法的優點

1. ICP發射光譜法的分析校正曲線具有很寬的線性范圍，在一般場合為5個數量級，好時可達6個數量級。

2. ICP發射光譜法具有同時或順序多元素測定能力，特別是固體成像檢測器的開發和使用及全譜直讀光譜儀的商品化更增強了它的多元素同時分析的能力。

3. 由于ICP發射光譜法在一般情況下無須進行基體匹配且分析校正曲線具有很寬的線性范圍，所以它操作簡便易于掌握，特別是對于液體樣品的分析。