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發布時間:2020-07-20 11:11  
1.1 設備數量 1套 * 1.2 設備功能 測試功率半導體器件靜態參數 * 1.3 設備組成 設備包含硬件模塊和軟件模塊兩大部分 * 1.4 硬件模塊 設備硬件部分應包括測試主機、測試線纜,測試夾具、控制電腦等 * 1.5 軟件模塊 設備軟件部分應包括: 1.操作系統、備份、保存、遠程控制編輯、上傳、故障自檢報警等基本功能; 2. 圖形化操作界面;中/英文操作系統 3.輸出EXCEL、wor測試報告 *4.切換大小功率測試模塊,達到相應測試精度 *5.可生成器件的I-V特性曲線,曲線上測試點數據可以導出到EXCEL表格;01uA 集電極電壓VCE: 0V 柵極電壓Vge: 0-40V±3%±0。 *6.同一測試條件的器件的測試曲線可以在軟件內進行對比,新測曲線可以與原測曲線進行對比; 2、設備尺寸 2.1 設備總體長度 ≤ 700 mm 2.2 設備總體寬度 ≤600mm 2.3 設備總體高度 ≤500mm

3、系統基本參數
3.1 電 壓 源:220VAC ±10% ,50Hz/60Hz 20A RMS;
3.2 加熱功能:室溫~150℃;
3.3 測試功能:可測試IGBT模塊及FRD;
3.4 環境溫度:25℃±15℃;
3.5 環境濕度:50% ±20% (相對濕度)
4、動態測試基本配置
4.1 集電級電壓 Vcc: 50 ~ 1000V;
4.2 集電極電流 Ic: 50 ~ 1000A 感性負載;
4.3 電流持續時間 It: 10 ~ 1000 us 單個脈沖或雙脈沖的總時間; 4.4 脈 沖 模 式: 單脈沖和雙脈沖;
4.5 單電流脈沖的設置: Vcc,Ic, 電感值(自動計算脈寬);
4.6 雙電流脈沖的設置: Vcc, Ic, 電感值,間隙時間(10到50us)(脈寬自動計算);
(開啟Qrr測試:第二個脈寬=間隙時間,10~50us);
4.7 設備寄生電感 Lint: < 65nH(感性動態測試)。
2.4短路技術條件 1、Vcc: 200~1000V 200~1000V±3%±2V 2、一次短路電流:20000A 500~1000A±3%±2A 1000A~5000A±2%±5A 5000A~20000A±2%±10A 3、tp:5-30us 2.5雪崩技術條件 1、Vce:50~500V±3%±5V 500~1000V±3%±5V 2、Ic:1A~50A 1A~9.9A±3%±50mA 10A~50A±3%±1A 3、EA:10mJ~20J 10mJ~1000mJ±3%±1mJ 1J~20J±3%±10mJ 4、脈沖寬度:40—1000uS可設定 5、測試頻率:單次 2.6 NTC測試技術條件 阻值測量范圍:0~20KΩ

7質量保證要求 ?測試參數多且完整、應用領域更廣泛,但只要使用其基本的2項功能:「開啟」電流壓降,「關閉」電流的漏電流,就可知道大功半導體有沒有老化的現象。賣方應通過ISO 9001質量論證。 ?賣方所提供的元件,必須是經過檢驗合格的器件,否則,買方有權拒付貨款。 ?買方有權要求賣方委托第三方進行有關參數的測試,以確保出廠測試的參數真實有效。 ?在調試期間發現元件有缺陷或受到損壞,應由賣方負責免費更換并予以賠償。 ?賣方由于自身原因而延遲交貨時,買方有權按商務規定方法向賣方收取罰款。 ?賣方對技術規范保證數據的有效性及交貨保質期等應由雙方協商確定并簽署在合同中。
