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              HDI盲孔測試機(jī)報(bào)價(jià)高性價(jià)比的選擇,威太智能科技

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              發(fā)布時(shí)間:2020-12-06 08:28  







              測試, High Current Test耐電流測試

              HCT耐電流測試是耐電流測試的一種方法。測試中,孔鏈被施加一恒定的直流電流,使得孔鏈在設(shè)定的時(shí)間(t1-t0)內(nèi)升高到設(shè)定的高溫T1,然后繼續(xù)施加此電流,使得孔鏈在溫度T1至T2范圍以內(nèi),保持設(shè)定的時(shí)間(t2-t1),然后停止施加電流,使孔鏈冷卻時(shí)間(t3-t2),直到達(dá)到室溫。●測試過程數(shù)據(jù)曲線顯示測試過程中,樣品的溫度,溫度變化速度,電阻,電流分別實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)顯示。

              在測試過程中,需要實(shí)時(shí)檢測孔鏈的電阻,電流。










              HDI板盲孔互聯(lián)失效原因

              激光蝕孔時(shí) 能量過大  激光蝕孔法是目前制作盲孔的主要生產(chǎn)工藝,CO2激光雖然不能直接燒蝕銅層,但銅層如果經(jīng)過特殊處理,使其表面具有強(qiáng)烈吸收紅外線波長特性,就會使銅層在瞬間迅速提高到很高的溫度。盲孔底部的內(nèi)層銅一般都經(jīng)過棕化處理,由于棕化后的銅表面對激光的反射較少,同時(shí)其粗糙的表面結(jié)構(gòu)增加了光的漫反射作用,從而增大了對光波的吸收,且棕化銅箱表面為有機(jī)層結(jié)構(gòu),也可以促進(jìn)光的吸收。在E-TEST測試時(shí)由于測針壓力作用可能會通過測試,而板件裝配后就可能發(fā)生開路或接觸失靈等問題。因此激光打孔后如果激光能量過大,就有可能使盲孔底部的內(nèi)層銅表層發(fā)生再結(jié)晶,造成內(nèi)層銅組織發(fā)生變化。








              除膠渣不凈  

              去環(huán)氧鉆污或除膠渣是盲孔電鍍前一個(gè)極為重要的流程,它對孔壁銅與內(nèi)層銅連接的可靠性起著至關(guān)重要的作用。因?yàn)橐粚颖”〉臉渲瑢涌赡軙姑た滋幱诎雽?dǎo)通狀態(tài)。在E-TEST測試時(shí)由于測針壓力作用可能會通過測試,而板件裝配后就可能發(fā)生開路或接觸失靈等問題。耐電流參數(shù)測試儀●升溫速度設(shè)定測試中,可以設(shè)定樣品的升溫速度,以模擬不同的溫度變化對樣品的熱沖擊。然而以手機(jī)板為例,每拼板上大約有7~10萬個(gè)盲孔,除膠處理時(shí)難免偶有閃失。

                由于目前各廠家的凹蝕藥l水體系都已經(jīng)很完善了,因此只有嚴(yán)密監(jiān)視槽液,在其即將出問題之前,當(dāng)機(jī)立斷更換槽液才能保證應(yīng)有的良率。









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