高動態范圍分光光譜儀信賴推薦 大塚電子有限公司

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

近紅外光譜主要是由于分子振動的非諧振性使分子振動從基態向高能級躍遷時產生的，記錄的主要是含氫基團X－H（X=C、N、O）振動的倍頻和合頻吸收。不同團（如甲i基、亞甲i基，1苯環等）或同一基團在不同化學環境中的近紅外吸收波長與強度都有明顯差別，NIR 光譜具有豐富的結構和組成信息，非常適合用于碳氫有機物質的組成與性質測量。但在 NIR區域，吸收強度弱，靈敏度相對較低，吸收帶較寬且重疊嚴重。近紅外光譜主要是由于分子振動的非諧振性使分子振動從基態向高能級躍遷時產生的，記錄的主要是含氫基團X－H（X=C、N、O）振動的倍頻和合頻吸收。因此，依靠傳統的建立工作曲線方法進行定量分析是十分困難的，化學計量學的發展為這一問題的解決奠定了數學基礎。

近紅外光譜儀的優勢

適用的樣品范圍廣

通過相應的測樣器件可以使用近紅外光譜儀直接測量液體、固體、半固體和膠狀體等不同物態的樣品光譜測量方便。而且近紅外光譜儀測量時對樣品無損傷，可以在分析和醫i藥臨床領域廣泛應用。這種技術被廣泛地應用于空氣污染、水污染、食品衛生、金屬工業等的檢測中。此外，還能夠廣泛地使用于農業食品等各個行業和領域，而且同樣都可以發揮的效果。

自動光學檢查(AOI, Automated Optical Inspection) 為工業自動化有效的檢測方法，使用機器視覺做為檢測標準技術，大量應用于LCD/TFT、晶體管與PCB工業制程上，在民生用途則可延伸至保全系統。自動光學檢查是工業制程中常見的代表性手法，利用光學方式取得成品的表面狀態，以影像處理來檢出異物或圖案異常等瑕疵，因為是非接觸式檢查，所以可在中間工程檢查半成品。早期發現缺陷將避免將壞板送到隨后的裝配階段,AOI將減少修理成本將避免報廢不可修理的電路板。

光學測量的被測件進行分類，主要分為3類：有源器件，無源器件，高速通信。有源器件主要有：調制器，發送器，接收機，放大器，MUX/DEMUX，光電和電光轉換器，以及激光源。無源器件主要有：濾波器，光纖，光連接器，光分路器，光衰減器。當測量光比較強時，那么幾乎所有的光譜儀都可以，甚至還需要對光進行衰減，以防止光譜飽和現象出現。高速通信主要有：40G/100G光通信，廣播電視通信，光纖接入，4G通信，光纖無線電等。