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發布時間:2020-08-06 09:14  





適用于各種材料的非接觸式三維表面分析NanoFocus測量系統能夠快速、有效地對幾乎所有材料——從金屬、玻璃、陶瓷、半導體、聚合物到有機材料——進行三維表面分析。共焦技術能夠測量各種表面反射特性的材料并獲得有效的測量數據。采用NanoFocus技術的μsurf、μscan和μsprint能夠在生產和加工的不同階段對敏感表面進行無損測量,透明涂層表面和層厚也可以同時測量。
無需樣品制備即可在幾秒鐘內獲取真正的3D數據,進而對表面進行定性和定量的評估。NanoFocus為測量數據的分析提供了強大的綜合軟件解決方案以便確定相關參數。
隨著半導體技術的電子技術工藝的發展,電子產品都往小型化,輕薄化發展。iWatch的一經推出,穿戴電子產品成為了一個新的電子設備應用潮流。隨著電子產品的小型化,器件體積越做越小,空間就緊湊起來,這對器件加工尺寸及工藝的容差要求就越來越高。
這款儀器采用非接觸式線光譜共焦快速掃描技術,能夠高l精度還原產品的3D結構,對肉眼不可見的結構缺陷都能準確檢測。因為具有較快的掃描速度,微米級別的精度和超l強的穩定性,一經推出立馬成為精密生產商的新寵。在精密鑄件、精密點膠、3D玻璃,半導體缺陷檢測和多層光學薄膜厚度檢測,就是這款產品的主要應用領域。
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影像測量儀的誤差來源有哪些呢? (1)光柵尺記數的偏差; (2)操作臺挪動時存有的平行度、角擺產生的偏差; (3)操作臺兩精l確測量軸平整度帶的偏差; (4)攝像鏡頭直線光軸與操作臺不垂直帶的偏差; (5)精l確測量工作溫度轉變產生的偏差; (6)燈源照明燈具標準的轉變產生的自動對焦和指向偏差。