FE膜厚儀服務為先「多圖」

本儀器是一套使用積分半球對薄膜狀樣品或粉狀物樣品進行量子效率測試的系統。

產品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學常數(n:折射率、k:消光系數)。寬闊的波長量測范圍。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量測范圍。(1nm~250μm)對應顯微鏡下的微距量測口徑。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

基本規格

(1) 測試樣品及環境

(a) 樣品：粉狀樣品

(2) 儀器的功能

(a) 激發熒光樣品，對熒光光譜進行測試。

(b) 為了消除積分球內反射的激發光而激發的熒光，配有“再激發修正”功能。

(c) 具有對樣品的量子效率、反射、吸收作測試的功能。

(d) 樣品設置采用手動方式。

(e) 可實現控溫和量子效率測試同步進行的功能。

(3) 儀器的構成

(a) 暗箱內部置有積分球光學系統。

(4) 溫控單元

(a) 50 ℃～300℃(cell部分)

(b) 采用加熱器加熱、風冷制冷。

(c) 溫控部分的周圍采用冷卻水循環、斷熱。

(d) 控制用溫度探頭是一個具備獨立的防止過度升溫的溫度探頭。

熒光材料樣品所反射的激發光，在積分球內壁上反射，并再次照射到熒光材料樣品上，發出熒光的現象叫做再激發。為了修正這個熒光發光的成份，如圖所示，改變Xe激發光（投光用光纖）的角度，將激發光的照射點改為樣品口的硫i酸鋇（或Spectralon）一面來進行測試。這樣可以將對積分球內壁上漫反射引起的再激發熒光成份進行測試，實行修正。

FE3000反射式膜厚量測儀原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實現任意波段的激發光并以此來照射熒光材料樣品，再以光譜儀對產生的發光光譜進行測試并對其熒光材料特性做出評價。

1）石英材質液體比色皿，光學透過率大于98%，全波段無熒光反應，用于液體樣品測試（3個）。尺寸：12.5mm*12.5mm*140mm

     2）具有專用的液體容器定位裝置，可實現入射光垂直入射到容器表面。