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              光譜分析儀免費咨詢“本信息長期有效”

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              發布時間:2020-07-18 18:49  







              一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體

              元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

              一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

              X熒光測厚儀相關注意事項:

                儀器供電電壓必須與儀器品牌上的電壓一致.儀器三線插頭必須連接到已接地的插座上。

                本儀器為精密儀器,配備的穩壓電源.計算機應配備不間斷電源(UPS)。

                儀器應特別注意與存在電磁的場合隔離開來。

                為避免短路,嚴禁儀器與液體直接接觸,如果液體進入儀器,請立即關閉儀器。

                本儀器不能用于酸性環境和場合。

                不要弄臟和刮擦調校標準片,否則會造成讀數錯誤。

                不要用任何機械或化學的方法清除調校片上的臟物,可以用不起毛的布輕輕擦拭。


              江蘇一六儀器  X射線熒光光譜測厚儀

              性能特點

              滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求

              φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

              移動平臺可定位測試點,重復定位精度小于0.005mm

              采用高度定位激光,可自動定位測試高度

              定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊

              鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點

              高分辨率探頭使分析結果更加精準

              良好的射線屏蔽作用

              測試口高度敏感性傳感器保護


                    江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗,經與海內外多名專家通力合作,研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀

                    X射線熒光光譜測厚儀定量分析

              利用熒光X射線進行定量分析的時候,大致分為3個方法。一個是制作測量線的方法(經驗系數法)。這個方法是測定幾點實際的已知濃度樣品,尋求想測定元素的熒光X射線強度和濃度之間的關系,以其結果為基礎測定未知樣品取得熒光X射線,從而得到濃度值。

                    另一個方法是理論演算的基礎參數法(FP法)。這個方法在完全了解樣品的構成和元素種類前提,利用計算的各個熒光X射線強度的理論值,推測測定得到未知樣品各個元素的熒光X射線強度的組成一致。


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