江岸X射線熒光光譜儀優選企業 智博通科技有限公司

X射線熒光光譜儀 X-Strata 920

根據所得光譜圖進行定性鑒定或定量分析。由于不同元素的原子結構不同，當被激發后發射光譜線的波長不盡相同，即每種元素都有其特征的波長，故根據這些元素的特征光譜就可以準確無誤的鑒別元素的存在(定性分析)，而這些光譜線的強度與試樣中該元素的含量有關，因此還可利用這些譜線的強度來測定元素的含量(定量分析)。島津全譜直讀型ICP發射光譜儀icpe-9000高通量采用大面積的1英寸CCD檢測器和中階梯光柵分光器，可以進行快速檢測。

島津全譜直讀型ICP發射光譜儀 icpe-9000

高通量

采用大面積的1英寸CCD檢測器和中階梯光柵分光器，可以進行快速檢測。以前使用順序掃描型產品需要5分鐘或者更長時間的檢測，現在僅需幾分鐘即可完成。另外，由于所有元素和波長信息在測定過程中都被采集，評估和重新計算非常簡單。如果使用助手功能，評估可以快速自動完成。3、火花臺優化設計：新一代ＳＰＥＣＴＲOＬＡＢ的火花臺設計有效降低了氣耗量和火花臺金屬粉塵沉積。采用真空光室減少了光譜儀吹掃氣體的需要ICPE-9000在同類型ICP儀器中首先使用真空光室，無需高純度氣體進行吹掃，從而降低了運行成本。配置了小炬管低運行成本ICPE-9000配置的小炬管，可降低氣的消耗，與標準炬管相比相比可降低一半。

德國斯派克落地式火花直讀光譜分析儀SPECTROLAB M12

建立光學系統技術新標準

2007年SPECTROLAB創造了先鋒技術“混合動力”PMT/CCD雙檢測器光學系統，為高l端直讀光譜儀光學技術樹立了新的里程碑。自從斯派克公司從未間斷提升兩種技術至新的境界。

兩種創造性的光學系統技術

無論第三代“混合動力”雙檢測器光學系統還是全CCD光學系統都創造性地為金屬工業提供了杰出的光學分析性能。雙檢測器光學系統無懈可擊地滿足了個性化科研實驗室對靈活性，穩定性和精度的嚴格要求。使其尤其適于檢測新材料，痕量分析，夾雜物，高純金屬。全CCD光學系統兼具驚人的重要性，穩定性和快速分析。便捷的ICAL智能標準化大大縮短儀器校正時間。SPECTRLAB將高l端直讀光譜儀的運行成本降低到新的水平。這些性能恰恰是爐前過程控制或進出廠原材料質量檢驗需要的。不僅于此，SPECTROLAB專利的測定球墨鑄鐵中的碳元素含量技術逐步取代了紅外碳硫分析儀。美國專利證書編號：8，976，350，B2

德國斯派克手持式土壤分析儀 能量色散型X-射線熒光光譜儀 手持式光譜儀 SPECTRO xSORT

手持X熒光光譜儀在環境土壤中的應用：

土壤污染具有隱蔽性、潛伏性和長期性，特別是重金屬污染基本上是一個不可逆過程，由于重金屬污染物以可溶性與不溶性顆粒存在，因此殘留率很高，如鎘、銅、鋅、鉛等可達85%~95%，有些元素如鉻甚至會被植物吸收從而在體內累積。因此如何快速,準確地檢測土壤中有害重金屬元素尤為迫切。簡便而降低成本的智能標準化：傳統的標準化過程甚至每個基體都各自需要大量的標準化樣品。

手持式X熒光光譜儀作為一種現場，快速，無損的檢測工具，被越來越廣泛地應用于分析土壤中有害重金屬元素，為快速全l