FE-3000常用指南,蘇州大塚電子有限公司

半積分球。大塚電子獨有專利，提高積分球測試效率一倍，更易于樣品的裝夾，切換迅速（世界范圍內獨i家）；(2)多次激發修正。大塚電子獨有專利，i大程度降低樣品所反射的激發光再次照射樣品帶來的多次激發, 對粉末和固體測試精度提高明顯（世界范圍內獨i家）；(3)光譜可擴展, 光譜探測范圍可擴展至1700nm甚至2550nm.(4) 可以升級配備控溫系統（-30℃-300℃）

不銹鋼樣品池及石英材質光學窗口，光學透過率大于98%，全波段無熒光反應，用于固體、粉末及薄膜樣品測試（數量5個），尺寸直徑≤10mm

光纖在極度彎曲后會有可能發生斷裂。故,請將彎曲半徑保持在10cm以上(即:不要過于折疊光纖,以免損壞).將樣品放入樣品放置cell內，然后放入積分半球內。粉狀物用cell用磁鐵固定在樣品口上（使用溫控系統時用無磁鐵的夾具固定）。Xe激發光（投光光纖）的照射位置可由積分球上方放置的監控窗口（圖上顯示）來進行確認。請將激發波長設置到可視光范圍內確認。

 原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實現任意波段的激發光并以此來照射熒光材料樣品，再以光譜儀對產生的發光光譜進行測試并對其熒光材料特性做出評價。本系統采用了具有高靈敏度、高穩定的本公司的光譜儀對光譜進行測量。

產品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學常數(n:折射率、k:消光系數)。