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一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

（一）、內(nèi)部結(jié)構(gòu)

   X熒光光譜測厚儀機(jī)型很多，但是其內(nèi)部結(jié)構(gòu)如果先天不足，后期的外部結(jié)構(gòu)無論自動化多高，也無法完全滿足客戶需求。內(nèi)部結(jié)構(gòu)重要的3點(diǎn)：

1、X熒光發(fā)射和CCD觀測是否同步和垂直？

2、測試樣品是否可以變化測頭到樣品的距離？

3、X光照射面積從出口到樣品的擴(kuò)散情況。

（二）、各種內(nèi)部結(jié)構(gòu)的優(yōu)缺點(diǎn)

   1、X熒光發(fā)射和CCD觀測樣品只有同步且垂直才不會因?yàn)闃悠返母叩蜕顪\變化而改變測試到樣品的位置，才能保證定位精準(zhǔn)，同時(shí)減少與探測器或計(jì)數(shù)器的夾角，夾角小測試時(shí)

受樣品曲面或者傾斜影響小。

2、測試樣品距離可變化才能測試高低不平帶凹槽的樣品工件，同時(shí)也兼顧好平面樣品的測試。但是它需要配備變焦鏡頭和變焦

補(bǔ)償射線的算法。

3、X光照射面積從出口到樣品的擴(kuò)散過于嚴(yán)重會導(dǎo)致無法測試樣品工件上較小的平面位置，如果減小出口（準(zhǔn)直器直徑），又會嚴(yán)重耗損X光的強(qiáng)度。

因此一臺此類儀器的小準(zhǔn)直器不是關(guān)鍵，但是測試面積卻是個(gè)重要的指標(biāo)。

鍍層厚度分析儀簡介鍍層厚度分析儀又叫涂鍍層測量儀、電鍍層測試儀、防腐層檢測儀、涂鍍層測試儀、涂鍍層測量儀、油漆測厚儀價(jià)格、油漆層測厚儀、油漆膜厚儀、鋼結(jié)構(gòu)油漆層測厚儀、鋼板油漆測厚儀、鋼管油漆測厚儀、油漆防腐層測厚儀、油罐防腐層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如：琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。由于受樣品的基體效應(yīng)等影響較大，因此，對于標(biāo)注樣品要求很嚴(yán)格，只有標(biāo)準(zhǔn)樣品與實(shí)際樣品集體和表面狀態(tài)相似，才能保證定量結(jié)果的準(zhǔn)確性。涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。

鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項(xiàng)目中，對鍍層厚度有了明確要求。

鍍層厚度分析儀的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。

X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時(shí)采用。

隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，X射線鍍層厚度分析儀向微型、智能、多功能、、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。GD-OES方法用惰性原子逐層轟擊及剝離試樣表層，再用發(fā)射光譜測定，這種方法可實(shí)現(xiàn)剖面或逐層分析，但測量重復(fù)性并不理想。測量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價(jià)廉，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。

一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

能量色散X熒光光譜儀定義及原理

X射線熒光光譜儀是一種可以對多元素進(jìn)行快速同時(shí)測定的儀器。江蘇一六儀器X射線熒光光譜測厚儀產(chǎn)品配置X光金屬鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置為：X射線管，正比計(jì)數(shù)器﹨半導(dǎo)體探測器，高清攝像頭，高度激光，信號檢測電子電路。試樣受X射線照射后，其中各元素原子的內(nèi)殼層（K，L或M層）電子被激發(fā)逐出原子而引起電子躍遷，并發(fā)射出該元素的特征X射線熒光。每一種元素都有其特定波長的特征X射線。能散型X射線熒光光譜儀（EDXRF）利用熒光X射線具有不同能量的特點(diǎn)，由探測器本身的能量分辨本領(lǐng)來分辨探測到的X射線。

      江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。

測厚范圍可測定厚度范圍:取決于用戶的具體應(yīng)用。X射線波長色散型光譜儀一般有光源（X-射線管）、樣品室分光晶體和檢測系統(tǒng)等組成。將列表可測定的厚度范圍-基本分析功能無標(biāo)樣檢量線測厚，可采用一點(diǎn)或多點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)樣品自動進(jìn)行基本參數(shù)方法校正。根據(jù)客戶本身應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)可檢測元素范圍:Ti22–U92可同時(shí)測定5層/15種元素/共存元素校正組成分析時(shí)，可同時(shí)測定15種元素多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較元素光譜定性分析-調(diào)整和校正功能系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能:校正X射線管、探測器和電子線路的變化對分析結(jié)果的影響，自動消除系統(tǒng)漂移譜峰計(jì)數(shù)時(shí)，峰漂移自動校正功能譜峰死時(shí)間自動校正功能譜峰脈沖堆積自動剔除功能標(biāo)準(zhǔn)樣品和實(shí)測樣品間，密度校正功能譜峰重疊剝離和峰形擬合計(jì)算-測量自動化功能(要求XY程控機(jī)構(gòu))鼠標(biāo)控制測量模式:'PointandShoot'多點(diǎn)自動測量模式:隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測量模式測量位置預(yù)覽功能激光對焦和自動對焦功能-樣品臺程控功能(要求XY程控機(jī)構(gòu))設(shè)定測量點(diǎn)oneorTwoDatumn(reference)Pointsoneachfile測量位置預(yù)覽