泰州電鍍膜厚儀性價比高 一六儀器

一六儀器 專業測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題

軟件算法

?大致分為3個方法。一個是制作測量線的方法（經驗系數法）。這個方法是測定幾點實際的已知厚度樣品，尋求想測定元素的熒光X射線強度和厚度之間的關系，以其結果為基礎測定未知樣品取得熒光X射線，從而得到濃度值。

?另一個方法是理論演算的基礎參數法（FP法）。這個方法在完全了解樣品的構成和元素種類前提，利用計算的各個熒光X射線強度的理論值，推測測定得到未知樣品各個元素的熒光X射線強度的組成一致。

?NBS-GSC法也稱作理論Alpha系數法。它是基于熒光X射線激發的基本原理，從理論上使用基本物理參數計算出樣品中每個元素的一次和二次特征X射線熒光強度的。基于此再計算Lachance綜合校正系數，然后使用這些理論α系數去校正元素間的吸收增強。準直器任意選擇或者任意切換最近測距光斑擴散度：9%測量距離：具有距離補償功能，可改變測量距離，能測量凹凸異型樣品，變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)樣品觀察：1/2。它與經驗系數法不同，這些校正系數是從“理論”上取得的，而非建立在“經驗”上。因而它也不需要那么多的標樣，只要少數標樣來校準儀器因子。

      江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗，經與海內外多名專家通力合作，研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀。

測厚范圍可測定厚度范圍:取決于用戶的具體應用。將列表可測定的厚度范圍-基本分析功能無標樣檢量線測厚，可采用一點或多點標準樣品自動進行基本參數方法校正。經典模型認為物質的表面并不是一個抽象的幾何概念，而是由剛性球的原子（分子）緊密排列而成，是實際存在的一個物理概念。根據客戶本身應用提供必要的校正用標準樣品。樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)可檢測元素范圍:Ti22–U92可同時測定5層/15種元素/共存元素校正組成分析時，可同時測定15種元素多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析-調整和校正功能系統自動調整和校正功能:校正X射線管、探測器和電子線路的變化對分析結果的影響，自動消除系統漂移譜峰計數時，峰漂移自動校正功能譜峰死時間自動校正功能譜峰脈沖堆積自動剔除功能標準樣品和實測樣品間，密度校正功能譜峰重疊剝離和峰形擬合計算-測量自動化功能(要求XY程控機構)鼠標控制測量模式:'PointandShoot'多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式測量位置預覽功能激光對焦和自動對焦功能-樣品臺程控功能(要求XY程控機構)設定測量點oneorTwoDatumn(reference)Pointsoneachfile測量位置預覽

      江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗，經與海內外多名專家通力合作，研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀

      X射線熒光測厚儀操作注意事項：

測厚儀操作時候需要注意的：

技術指標：

1 分析元素范圍：Cl（17）-U（92）

2 同時可分析多達5層鍍層以上

3 分析厚度檢出限高達0.01μm

4 多次測量重復性高可達0.01μm

5測量時間：5s-300s

6 計數率：0-8000cps

測厚儀操作流程

打開儀器開關----在電腦上開啟軟件-------開高壓鑰匙-------聯機------預熱-----峰位校正------新建程式------選擇相應的程式-----測試樣品----出報告

一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素   厚度檢出限:0.005um

選擇Elite（一六儀器）X射線熒光鍍層測厚儀理由：

   根據IPC規程，必須使用整塊的標準片來校正儀器，對于多鍍層的測量，目前大多數客戶購買的測厚儀采用的是多種箔片疊加測量校正，比如測量PCB板上的Au/Pd/Ni/Cu,因為測量點很小，測量距離的變化對測量結果有較大影響，如果使用Au，Pd，Ni三種箔片疊加校正，校正的時候箔片之間是有空氣，并且Pb元素與空氣的頻譜重疊，以上會對測量結果產生較大影響，Elite（一六儀器）測厚儀有電鍍好的整塊的Au/Pd/Ni/base標準片，不需要幾種箔片疊加校正，可以確保鍍層測量的準確性。從準儀照射測定物的位置，可由倍率率更機能來實現盡面上測出物放大。

2、采用微聚焦X射線管，油槽式設計，工作時采用油冷，長期使用時壽命更長。微聚焦X射線管配合比例接收能實現高計數率，可以進行測量。

3、Elite（一六儀器）WinFTM專用軟件，具有強大且界面友好、中英文切換，多可同時測量23層鍍層，24種元素，測量數據可直接以WORD格式或EXCEL格式輸出、打印、保存。通過測定特征X射線的能量，便可以確定相應元素的存在，而特征X射線的強弱（或者說X射線光子的多少）則代表該元素的含量或厚度。采用基本參數法（FP），有內置頻譜庫，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行準確的分析和測量。

4、 Elite（一六儀器）針對PCB（印制電路板）線路板上的鍍層厚度及分析而設計的X射線熒光測厚儀（XDLM-PCB200/PCB210系列）具有以下特點：1）工作臺有手動和程序控制供客戶選擇，2）采用開槽式設計和配置加長型樣品平臺，用于檢測大尺寸的線路板。能量色散X射線熒光光譜分析相對其他分析方法，具有無需對樣品進行特別的化學處理、快速，方便，測量成本低等明顯優勢，特別適合用于各類相關企業作為過程控制和檢測使用。