直讀ICP光譜儀價格值得信賴「多圖」

ICP光譜儀光譜分析

今天ICP光譜儀小編跟您講講光譜分析，由于每種原子都有自己的特征譜線，因此可以根據光譜來鑒別物質和確定它的化學組成.這種方法叫做光譜分析.做光譜分析時，可以利用發射光譜，也可以利用吸收光譜.這種方法的優點是非常靈敏而且迅速.某種元素在物質中的含量達10^-10(10的負10次方)克，就可以從光譜中發現它的特征譜線，因而能夠把它檢查出來.光譜分析在科學技術中有廣泛的應用.例如，在檢查半導體材料硅和鍺是不是達到了高純度的要求時，就要用到光

太陽光譜譜分析.在歷，光譜分析還幫助人們發現了許多新元素.例如，銣和銫就是從光譜中看到了以前所不知道的特征譜線而被發現的.光譜分析對于研究天體的化學組成也很有用.十九世紀初，在研究太陽光譜時，發現它的連續光譜中有許多暗線。ICP發射光譜法具有同時或順序多元素測定能力，特別是固體成像檢測器的開發和使用及全譜直讀光譜儀的商品化更增強了它的多元素同時分析的能力。不知道這些暗線是怎樣形成的，后來人們了解了吸收光譜的成因，才知道這是太陽內部發出的強光經過溫度比較低的太陽大氣層時產生的吸收光譜.仔細分析這些暗線，把它跟各種原子的特征譜線對照，人們就知道了太陽大氣層中含有氫、氦、氮、碳、氧、鐵、鎂、硅、鈣、鈉等幾十種元素.

ICP光譜儀兩個熄火的原因

（1）ICP光譜儀本身維持和儀器認為有危險而關閉ICP光譜儀，稱為保護性熄火。

（2）等離子體不能維持。如果想提前安裝，可以詢問廠家，一般廠家都會提供一個詳細的安裝圖紙，可以按圖紙安裝。出現這種現象首先要看計算機屏幕是否有對話框提示，根據對話框提示來判斷是那哪方式的熄火；沒有提示繼續采用聽、看和摸等感官感應鎖發生的現象來判定故障部位。等離子體不能維持說明離子體比較弱，低功率與高負載都易導致滅火，檢查RF功率（通過IP）和使用低鹽類樣品可幫助判斷是否存在以上可能，不良的調諧有時也會導致滅火，但很多發生在樣品切換時，需要加以注意。造成這種原因的主要問題如下：

①檢查氣體是否被耗費完，如果耗完，請立即更換高純氣，為了保護固態檢測器的安全，2h后再點火。

②看氣壓表和流量計是否正常。

③如果排風系統排風不暢或不連續，等離子炬區域的熱量無法及時排除，出現積聚，影響等離子炬的穩定，也會造成等離子炬熄火。

④進樣系統突然漏氣或者突然堵塞也會造成熄火。

⑤如果低功率與高負載（有機溶液、高鹽溶液）測定樣品，也會因為設置參數不匹配造成等離子炬熄火。

⑥ICP光譜儀炬管外圍的銅線圈外壁結垢，管內結構。循環系統滲漏及管道過濾器堵塞等原因導致循環水量不足以及風冷效果不佳（與室溫有直接關系）均會影響循環水冷卻的效果，導致由于冷卻水溫度過高而啟動自動保護裝置熄火

⑦ICP光譜儀等離子體的保護性熄火主要對高壓的保護和對高頻的保護，往往對高壓的保護會有提示，觀察滅火時間對判斷滅火原因很有用。參考一下內容：(1)計量校準依據參考檢定規程JJG768—2005《發射光譜儀》ICP光譜儀的有關內容進行。操作員要準確告知維修工程師滅火發生在點燃后的情況，具體說明等離子維持時間在什么范圍。水、排風。門等及過流開關連鎖保護開關損壞也會熄火，應急辦法是把開關進行短路處理后，短時間內對數據測定不會帶來影響，等待光譜儀維修工程師上門維修。

ICP光譜儀的目標元素

ICP光譜儀是上世紀60年代提出、70年代迅速發展起來的，它的迅速發展和廣泛應用是與其克服了經典光源和原子化器的局限性分不開的，那么ICP光譜儀的目標元素都有哪些呢？下面小編就來介紹一下：

ICP光譜儀軟質樣品（例如：銅、鋁、鋅、鉛）必須車削表面或用酒精濕磨.磨好的表面一定不要玷污（例如用手觸摸）.考慮到金屬熱漲冷縮效應,會影響光線穩定性.溫度變化會影響儀器的熱平衡,對和一些電器件會造成不穩定,若溫差較大對光路也會有影響.

ICP光譜儀對于鋼和鑄鐵（顆粒大小,對鋼是60到80之間,對鑄鐵是40到60之間）,建議用適合于本儀器樣品的砂紙干磨.砂紙一定不要被高合金含量的樣品污染（例如：應該先用于低合金樣品，再用于高合金樣品）.樣品必須在清潔的、規范的砂紙上磨（沒有先前激發處理留下的激發的痕跡）.樣品表面不能被拋光（適時更新用過的砂紙）.必須確保樣品在磨的過程中沒有過熱（樣品應該與砂紙只有短暫的接觸）。在實際工作中，存在其他元素峰對所測元素峰有干擾的情況時，可以通過調節計算方法及火焰觀測方式來減小誤差，提高線性相關系數。如果需要，樣品應該用水冷卻，再干燥，再盡可能短的時間干磨.

ICP光譜儀可用標樣中目標元素的“真實濃度”與分析線對和強度比（R）擬合工作曲線（校準曲線）。批量樣品的測定應注意樣品間應用稀的酸或去離子水清洗，個別高含量的樣品應稀釋后重新測定，并注意清洗足夠的時間，以避免污染下一個樣品。如果鐵含量變化過大，如高、中合金鋼，其影響不可忽略，需要用標樣中目標元素的“相對濃度”（或“濃度比”）與分析線對和強度比（R）擬合工作曲線，這就是我國光譜分析的前輩講的“誘導含量法”。如果希望用同一工作曲線同時分析高、中、低合金鋼，那就都要用“相對濃度”來校正基體含量的影響。更進一步，如果既要校正基體含量的影響，又要校正共存元素的干擾，就應該用“表觀濃度”來擬合工作曲線。

ICP光譜儀雖然本身測量準確度很高，但測定試樣中元素含量時， 所得結果與真實含量通常不一致，存在一定誤差，并且受諸多因素的影響，有的材料本身含量就很低。