湖州失效分析儀誠信企業推薦「在線咨詢」

      Phase12 熱阻測試儀產自美國 Analysis Tech(Anatech)公司，符合美軍標和 JEDEC 標準.

      Analysis Tech Inc.成立于 1983 年，坐落于波士頓北部，是電子封裝器件可靠性測試的國際設計，制造公司。創始人 John W.Sofia 是美國麻省理工的博士，并且是提出焊點可靠性,熱阻分析和熱導率理論的. 發表了很多關于熱阻測試于分析，熱導率及焊點可靠性方面的. Analysis Tech Inc.在美國有獨立的實驗室提供技術支持. 在全世界熱阻測試儀這套設備有幾百家客戶.

      主要用于測試二極管，三極管，線形調壓器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET ,IGBT，IC 等分立功率器件的熱阻測試及分析。

射線照相法（RT）是指用X射線或γ射線穿透試件，以膠片作為記錄信息的器材的無損檢測方法，該方法是基本的，應用的一種非破壞性檢驗方法。原理：射線能穿透肉眼無法穿透的物質使膠片感光，當X射線或γ射線照射膠片時，與普通光線一樣，能使膠片乳劑層中的鹵化銀產生潛影，由于不同密度的物質對射線的吸收系數不同，照射到膠片各處的射線強度也就會產生差異，便可根據暗室處理后的底片各處黑度差來判別缺陷。

對于那些整體密封或者說沒有任何透氣孔的產品,就需要氣密性檢測儀采用正壓也就是加壓方式來檢測密封性了, 這時候的防水

測試治具內部密封腔體就是間接測試要用到的，正壓法采用的就是往這個包含產品的氣密性防水測試治具內腔充入一定壓力的干

燥壓縮空氣,然后通過氣密性檢測儀設備內的精密傳感器實時檢測內部氣壓變化,也就是說,如果這個電子產品密封性不好,就

會有氣體進入產品內部,那么防水測試治具密封腔體內的氣體就會相應的減少,進而被檢測出來,如果泄露量大于允許泄漏量，

氣密性檢測儀就會報警,這樣就將不合格產品甄別出來。