FE3000點擊了解更多,大塚電子有限公司

1）不銹鋼樣品池及石英材質光學窗口，光學透過率大于98%，全波段無熒光反應，用于固體、粉末及薄膜樣品測試（數量5個），尺寸直徑≤10mm

     2）石英材質液體比色皿，光學透過率大于98%，全波段無熒光反應，用于液體樣品測試（3個）。尺寸：12.5mm*12.5mm*140mm

     3）具有專用的液體容器定位裝置，可實現入射光垂直入射到容器表面。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

半積分球。大塚電子獨有專利，提高積分球測試效率一倍，更易于樣品的裝夾，切換迅速（世界范圍內獨i家）；(2)多次激發修正。大塚電子獨有專利，i大程度降低樣品所反射的激發光再次照射樣品帶來的多次激發, 對粉末和固體測試精度提高明顯（世界范圍內獨i家）；(3)光譜可擴展, 光譜探測范圍可擴展至1700nm甚至2550nm.(4) 可以升級配備控溫系統（-30℃-300℃）

產品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學常數(n:折射率、k:消光系數)。

應用范圍■ FPD

?LCD、TFT、OLED(有機EL)

■ 半導體、復合半導體

?矽半導體、半導體雷射、強誘電、介電常數材料

■ 資料儲存

?DVD、磁頭薄膜、磁性材料

■ 光學材料

?濾光片、抗反射膜

■ 平面顯示器

?液晶顯示器、薄膜電晶體、OLED

■ 薄膜

?AR膜

■ 其它

?建筑用材料

 原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實現任意波段的激發光并以此來照射熒光材料樣品，再以光譜儀對產生的發光光譜進行測試并對其熒光材料特性做出評價。本系統采用了具有高靈敏度、高穩定的本公司的光譜儀對光譜進行測量。