湖州失效分析儀誠信企業(yè)推薦「在線咨詢」

      Phase12 熱阻測試儀產(chǎn)自美國 Analysis Tech(Anatech)公司，符合美軍標和 JEDEC 標準.

      Analysis Tech Inc.成立于 1983 年，坐落于波士頓北部，是電子封裝器件可靠性測試的國際設計，制造公司。創(chuàng)始人 John W.Sofia 是美國麻省理工的博士，并且是提出焊點可靠性,熱阻分析和熱導率理論的. 發(fā)表了很多關于熱阻測試于分析，熱導率及焊點可靠性方面的. Analysis Tech Inc.在美國有獨立的實驗室提供技術支持. 在全世界熱阻測試儀這套設備有幾百家客戶.

      主要用于測試二極管，三極管，線形調(diào)壓器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET ,IGBT，IC 等分立功率器件的熱阻測試及分析。

射線照相法（RT）是指用X射線或γ射線穿透試件，以膠片作為記錄信息的器材的無損檢測方法，該方法是基本的，應用的一種非破壞性檢驗方法。原理：射線能穿透肉眼無法穿透的物質(zhì)使膠片感光，當X射線或γ射線照射膠片時，與普通光線一樣，能使膠片乳劑層中的鹵化銀產(chǎn)生潛影，由于不同密度的物質(zhì)對射線的吸收系數(shù)不同，照射到膠片各處的射線強度也就會產(chǎn)生差異，便可根據(jù)暗室處理后的底片各處黑度差來判別缺陷。

對于那些整體密封或者說沒有任何透氣孔的產(chǎn)品,就需要氣密性檢測儀采用正壓也就是加壓方式來檢測密封性了, 這時候的防水

測試治具內(nèi)部密封腔體就是間接測試要用到的，正壓法采用的就是往這個包含產(chǎn)品的氣密性防水測試治具內(nèi)腔充入一定壓力的干

燥壓縮空氣,然后通過氣密性檢測儀設備內(nèi)的精密傳感器實時檢測內(nèi)部氣壓變化,也就是說,如果這個電子產(chǎn)品密封性不好,就

會有氣體進入產(chǎn)品內(nèi)部,那么防水測試治具密封腔體內(nèi)的氣體就會相應的減少,進而被檢測出來,如果泄露量大于允許泄漏量，

氣密性檢測儀就會報警,這樣就將不合格產(chǎn)品甄別出來。