三維測(cè)量工具在線咨詢

維光學(xué)攝影測(cè)量系統(tǒng),采用數(shù)字近景工業(yè)攝影測(cè)量技術(shù)（digital close-range industrialPhotogrammetry ），是便攜式光學(xué)三坐標(biāo)系統(tǒng)，用于測(cè)量物體表面的標(biāo)志點(diǎn)和特征的三維坐標(biāo)。中文名XJTUDP三維光學(xué)攝影測(cè)量系統(tǒng)技    術(shù)采用數(shù)字近景工業(yè)攝影測(cè)量技術(shù)用    途測(cè)量物體表面的標(biāo)志點(diǎn)技術(shù)特點(diǎn)可以測(cè)量出大型物體表面的編碼點(diǎn)目錄1 產(chǎn)品更名2 系統(tǒng)簡(jiǎn)介3 系統(tǒng)組成4 應(yīng)用范圍5 技術(shù)特點(diǎn)6 研發(fā)情況產(chǎn)品更名編輯XJTUDP三維光學(xué)攝影測(cè)量系統(tǒng)已更名為XTDP三維光學(xué)攝影測(cè)量系統(tǒng) [1]