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一鍵測(cè)量?jī)x自動(dòng)匹配功能

?一鍵測(cè)量?jī)x的誤差來源？

    在影像測(cè)量?jī)x上的測(cè)量均是單軸或二維平面坐標(biāo)的測(cè)量,測(cè)量時(shí)先對(duì)焦,后對(duì)準(zhǔn),再讀數(shù)(計(jì)數(shù)),然后計(jì)算處理。讀數(shù)來自于標(biāo)尺即光柵系統(tǒng),對(duì)焦對(duì)準(zhǔn)依靠顯微鏡光學(xué)系統(tǒng),還有一個(gè)直接影響測(cè)量效果和精度的照明光源,因?yàn)?基于影像方法測(cè)量的儀器,如果被測(cè)件不能被有效正確的照明,則測(cè)量的結(jié)果顯然要偏離其真實(shí)尺寸。除前述因素外,環(huán)境條件也是制約測(cè)量精度不可忽視的因素。

    基于上述分析,可以歸納出以下幾個(gè)方面的誤差來源:

a、光柵計(jì)數(shù)尺的誤差;

b、工作臺(tái)移動(dòng)時(shí)存在的直線度、角擺帶來的誤差;

c、工作臺(tái)兩測(cè)量軸垂直度帶了的誤差;

d、顯微鏡光軸與工作臺(tái)面不垂直帶了的誤差;

e、測(cè)量室溫度帶來的誤差;

f、光源照明條件的變化帶來的對(duì)焦和對(duì)準(zhǔn)誤差。

     在這幾種因素中,前四項(xiàng)誤差,是硬件誤差,在儀器制造過程中已經(jīng)形成并固定下來,一般無法改變;溫度影響帶來的誤差,通過控制測(cè)量室的溫度和等溫過程來減小其影響。

     其中有一項(xiàng)則常被忽視,而在實(shí)際測(cè)量中,當(dāng)光源照明條件改變時(shí),直接影響被測(cè)工件的照明效果和影像質(zhì)量,主要是因?yàn)橛跋駵y(cè)量?jī)x的圖像是通過CCD接收,盡管CCD具有自動(dòng)調(diào)節(jié)增益的功能,但當(dāng)亮度過大時(shí)即失去調(diào)節(jié)功能,導(dǎo)致被測(cè)工件影像在縮小,當(dāng)亮度過低時(shí),工件影像反而變大。

     這種影響,對(duì)于測(cè)量具有重復(fù)圖形結(jié)構(gòu)之間的間距時(shí),只要整個(gè)測(cè)量過程中照明條件保持不變,其影響可以忽略,因?yàn)槊總€(gè)重復(fù)圖形結(jié)構(gòu)都同時(shí)在變大或變小,間距的測(cè)量計(jì)算直接消除了影像變形的影響,如測(cè)量玻璃尺、網(wǎng)格板刻線間距;除了這種特殊情形外,如測(cè)量圓的直徑、工件的長(zhǎng)度和寬度,都將帶來明顯的誤差。

一鍵測(cè)量?jī)x有哪些優(yōu)缺點(diǎn)

    一鍵測(cè)量?jī)x的核心硬件是由上下光源、高像素CCD相機(jī)、大視角大景深遠(yuǎn)心鏡頭及固定載物臺(tái)組成，結(jié)構(gòu)相對(duì)簡(jiǎn)單。一鍵測(cè)量?jī)x是一種新型的影像測(cè)量技術(shù)。它和傳統(tǒng)的二次元影像測(cè)量?jī)x不同的是它不再需要光柵尺位移傳感器作為精度標(biāo)，也不經(jīng)過大焦距的鏡頭經(jīng)過放大產(chǎn)品影像來保障測(cè)量精度。那么一鍵測(cè)量?jī)x有哪些優(yōu)缺點(diǎn)？

一鍵測(cè)量?jī)x

    1、測(cè)量速度極快，能在2到5秒內(nèi)完成100個(gè)以內(nèi)的尺寸的繪圖、測(cè)量及公差的評(píng)價(jià)，效率是傳統(tǒng)二次元影像測(cè)量?jī)x的數(shù)十倍。

    2、避免了因測(cè)量行程增大而受到影響阿貝誤差。重復(fù)測(cè)量精度高，解決了同一個(gè)產(chǎn)品反復(fù)測(cè)量數(shù)據(jù)一致性 差的現(xiàn)象。

    3、儀器結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，不需要位移標(biāo)尺光柵尺，在測(cè)量過程中也不需要移動(dòng)工作臺(tái)，所以儀器的穩(wěn)定性能很 好。

    4、由于精度標(biāo)尺是CCD相機(jī)的像素點(diǎn)，而像素點(diǎn)是不會(huì)隨時(shí)間變化，也不會(huì)受到溫濕度的影響，所以儀器 的 精度比較穩(wěn)定，且可以通過軟件實(shí)現(xiàn)測(cè)量精度自動(dòng)校準(zhǔn)。

一鍵測(cè)量?jī)x缺點(diǎn)：

    1、測(cè)量的量程范圍較小，它的測(cè)量量程在保證高精度的情況下不大于130毫米。

    2、測(cè)量功能比較窄，僅適合平面基本幾何尺寸的測(cè)量和公差的評(píng)價(jià)。

    3、對(duì)產(chǎn)品要求比較高，對(duì)于產(chǎn)品輪廓不光滑、不精細(xì)的產(chǎn)品測(cè)量的誤差比較大。價(jià)格比較昂貴。