檢修用IGBT測試儀批發產品介紹「華科智源」

半導體元件除了本身功能要良好之外，其各項參數能否達到電路上的要求，必須定期測量，否則產品的質量特性很難保證，尤其是較大的功率元件，因具有耗損性，易老化及效率降低，因不平衡導致燒毀，甚至在使用中會發生。所以對新產品及使用中的元件參數的篩選及檢查更為重要。4驗收和測試 3)驗收試驗應在-10～40℃環境溫度下進行，驗收完成后測試平臺及外部組件和裝置均應安裝在買方的位置上。 半導體元件的每一個參數，依其極性的不同，都須要一個獨特的測量電路，我公司所設計生產的半導體元件自動測試系統，具有一組繼電器形成的矩陣電路，依每個參數的定義，形成千變萬化的電路，再依元件的出廠規格加上額定的電流或電壓后，在極短的時間內將所須要的數據量測出來，且有些參數從量測的數據經快速運算即可得知其特性是否在規定范圍內。

14）工控機及操作系統

用于控制及數據處理，采用定制化系統，主要技術參數要求如下：

?機箱：4Μ 15槽上架式機箱；

?支持ATX母板；

?CPΜ：INTEL雙核；

?主板：研華SIMB；

?硬盤：1TB；內存4G；

?3個5.25”和1個3.5”外部驅動器；

?集成VGA顯示接口、4個PCI接口、6個串口、6個ΜSB接口等。

?西門子PLC邏輯控制

15）數據采集與處理單元

用于數據采集及數據處理，主要技術參數要求如下：

?示波器;高壓探頭：滿足表格4-11動態參數、短路電流、安全工作區測試需求

?電流探頭：滿足表格4-11動態參數、短路電流、安全工作區測試需求

?狀態監測：NI數據采集卡

?上位機：基于Labview人機界面

?數據提取：測試數據可存儲為Excel文件及其他用戶需要的任何數據格式，特別是動態測試波形可存儲為數據格式；所檢測數據可傳遞至上位機處理；從檢測部分傳輸的數據經上位機處理后可自動列表顯示相應測試數據；?數據處理和狀態檢測部分內容可擴展

2.4短路技術條件 1、Vcc： 200～1000V 200～1000V±3%±2V 2、一次短路電流：20000A 500～1000A±3%±2A 1000A～5000A±2%±5A 5000A～20000A±2%±10A 3、tp：5-30us 2.5雪崩技術條件 1、Vce：50～500V±3%±5V 500～1000V±3%±5V 2、Ic：1A～50A 1A～9.9A±3%±50mA 10A～50A±3%±1A 3、EA：10mJ～20J 10mJ～1000mJ±3%±1mJ 1J～20J±3%±10mJ 4、脈沖寬度：40—1000uS可設定 5、測試頻率：單次 2.6 NTC測試技術條件 阻值測量范圍：0～20KΩ