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大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

瞬間測量絕i對量子效率（絕i對量子收率）。適用于粉體、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量。通過低迷光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區域的迷光。另，采用了積分半球unit，實現了明亮的光學系的同時，運用其再激勵熒光補正的優點，可進行高i精度的測量。另，QE-2100對應范圍廣，從量子效率的溫度依賴性測量或紫外～近紅的的波長范圍。

 測量精度高

? 可瞬間測量量子效率（量子收率）

? 可去除再激勵熒光發光

? 采用了積分半球unit，實現了明亮的光學系

? 采用了低迷光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區域的迷光

功能多

? 可用于粉體、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量

? 豐富的解析功能

操作簡單

? 專業軟件，操作簡單

? 輕松裝卸樣品測量用cell

? 小型設計，省空間

? 利用分光器型的激勵光源，可選擇任意波長

? 可在軟件激勵波長的波長及step的值，進行自動測量

根據再激勵熒光補正功能，觀察”真正德物性值”

包括再激勵熒光發光狀態下，不僅不能觀察材料本身的物性，也不能觀測到包含裝置的特性，無法求出真正的物性值。QE-2000通過利用積分半球的再激勵熒光補正的特點，可簡單的測量出真正的物性值，且精度高。

什么是再激發熒光發光.

在熒光體樣品表面上反射的激發光

在積分球內擴散和反射并再次進入熒光樣品以發射

更多光的現象。

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  保修期內，萬一由于制造上的不足而使本產品產生故障，則免費為您修理。但是，本產品的故障原因復合以下情況時，則不在此保修內容內。熒光物質樣品反射出的激發光在積分球內壁反復反射，再次照射到熒光物質樣品上并使其熒光發光的過程，被稱作再次激發。