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              阜陽涂層測厚儀產品介紹

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              發布時間:2020-07-21 07:22  







                   江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗,經與海內外多名專家通力合作,研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀

                   X射線熒光光譜測厚儀原理

                  一個內層電子而出現一個空穴,使整個原子體系處于不穩定的激發態,激發態原子壽命約為 (10)-12-(10)-14s,然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷,也可以是輻射躍遷。撞擊過程中,電子突然減速,其損失的動能(其中的1%)會以光子形式放出,形成X光光譜的連續部分,稱之為制動輻射。當較外層的電子躍遷到空穴時,所釋放的能量隨即在原子內部被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子,此稱為俄歇效應,亦稱次級光電效應或無輻射效應,所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。

                   它的能量是特征的,與入射輻射的能量無關。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不在原子內被吸收,而是以輻射形式放出,便產生X射線熒光,其能量等于兩能級之間的能量差。因此,X射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關系。近年來的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術,利用磁阻來調制測量信號。 K層電子被逐出后,其空穴可以被外層中 任一電子所填充,從而可產生一系列的譜線,稱為K系譜線:由L層躍遷到K層輻射的X射線叫Kα射線,由M層躍遷到K層輻射的X射線叫Kβ射線……。


              一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體

              元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

              一次可同時分析:23層鍍層,24種元素   厚度檢出限:0.005um

              江蘇一六儀器   X熒光光譜測厚儀 優點    

              X射線熒光能譜儀沒有復雜的分光系統,結構簡單。X射線激發源可用X射線發生器,也可用性同位素。能量色散用脈沖幅度分析器。探測器和記錄等與X射線熒光光譜儀相同。

                  X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀各有優缺點。微聚焦X射線管配合比例接收能實現高計數率,可以進行高精度測量。前者分辨率高,對輕、重元素測定的適應性廣。對高低含量的元素測定靈敏度均能滿足要求。后者的X射線探測的幾何效率可提高2~3數量級,靈敏度高。可以對能量范圍很寬的X射線同時進行能量分辨(定性分析)和定量測定。對于能量小于2萬電子伏特左右的能譜的分辨率差。

              江蘇一六儀器  X射線熒光鍍層測厚儀應用領域      

                   集成電路是國民經濟首要突破的行業,中國現代制造業的發展,集成電路是基礎。磁性原理測厚儀可應用來測量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油待業的各種防腐涂層。如果保證電路板生產的質量,電鍍檢測重中之重!x射線熒光膜厚測厚儀為集成電路的發展,PCB線路板加工業的質量保駕護航。價格一直是客戶在購買時關心的問題,好質量和售后服務的產品在價格上面往往比較高,所以客戶在選擇產品時選擇性價比高的就需要一定的了解,首先是品牌,其次是客戶調查,售后服務等。x射線熒光膜厚測厚儀可用于電力行業高壓開關柜所用的鍍銀件厚度測試,鍍錫測試。也可以用于首飾類產品的鍍銀層測厚,PCB線路板的鍍銀厚度分析。 的詳細信息x射線熒光膜厚測厚儀可用于電力行業高壓開關柜所用的鍍銀件厚度測試,鍍錫測試。也可以用于首飾類產品的鍍銀層測厚,PCB線路板的鍍銀厚度分析。

                    x射線熒光膜厚測厚儀已經成為電力行業,PCB行業,首飾行業的鍍層分析的常規手段,比傳統的電解法測厚儀具有更快的測試速度和分析精度,也比切片法具有更快的分析效率。


              江蘇一六儀器    X射線熒光光譜測厚儀

              產品配置

              X光金屬鍍層測厚儀標準配置為:X射線管,正比計數器﹨半導體探測器,高清攝像頭,高度激光,信號檢測電子電路。

              性能指標

              X射線激發系統 垂直上照式X射線光學系統

              空冷式微聚焦型X射線管,Be窗

              標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等

              X射線管:管電壓50KV,管電流1mA

              可測元素:CI~U

              檢測器:正比計數管

              樣品觀察:CCD攝像頭

              測定軟件:薄膜FP法、檢量線法

              Z軸程控移動高度 20mm



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