光譜膜厚儀服務(wù)為先

一六儀器  X-RAY測厚儀研發(fā)生產(chǎn)廠家,歡迎來電咨詢!

測厚儀,多薄多復(fù)雜組合的鍍層分析,一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的儀器都能滿足您的使用!

一六儀器提供的測厚儀可測試面積0.002mm?和80mm深槽的樣品

測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。

  測量注意事項：⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。

⒉測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

能量色散X射線熒光光譜儀技術(shù)原理

江蘇一六儀器  國內(nèi)外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀 

穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨特聚焦和變距設(shè)計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

能量色散X射線的發(fā)生與特征當(dāng)用高能電子束照耀樣品時，人射高能電子被樣品中的電子減速，這種帶電拉子的負的加快度會發(fā)生寬帶的延續(xù)X射線譜，簡稱為延續(xù)潛或韌致輻射。

另一方面，化學(xué)元素遭到高能光子或粒子的照耀，如內(nèi)層電子被激起，則當(dāng)外層電子躍遷時，就會出特征X射線。

能量色散X射線是一種別離的不延續(xù)譜.假如激起光源為x射線，則受激發(fā)生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征X射線顯示了特征能量色散X射線熒光光譜儀發(fā)生的進程。

當(dāng)人射x射線撞擊原子中的電子時，如光子能量大于原子中的電子約束能，電子就會被擊出。這一互相效果進程被稱為光電效應(yīng)，被打出的電子稱為光電子。經(jīng)過研討光電子或光電效應(yīng)可以取得關(guān)于原子構(gòu)造和成鍵形態(tài)的信息。

一六儀器  國內(nèi)外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀  

一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨特聚焦和變距設(shè)計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

測厚儀操作規(guī)程有哪些？測厚儀在使用過程中，如果操作不規(guī)范，很容易導(dǎo)致測厚儀出現(xiàn)故障及問題，因此我們在使用前都需要先了解下測厚儀的操作規(guī)范及一些常見問題的處理方法：

四.安全衛(wèi)生

1、源需由專人保管；

2、應(yīng)有妥善的保管場所（有防盜門、窗和放置源用的鐵皮 柜，距生活區(qū)一米遠）；

3、長期不使用時,應(yīng)放置保管場所；

4、衛(wèi)生

5、應(yīng)定期清理主機和探頭外表面，對源鉛罐上表面也要定期清理。

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X射線測厚儀測量精度的影響因素

X射線源的衰減對于工廠現(xiàn)場的的標定過程中,隨著使用時間的增加,燈管的曲線會發(fā)生變化,在同一電壓下,隨著使用燈管時間的遞加,厚度偏差會越來越大,因此,X射線源的衰減,是影響測量精度的一個主要原因。另外,被測量的物體,可能會上下跳動,偏離測量時的位置,這種傾斜也會影響測量的精度。除了正常使用過程中X射線源會出現(xiàn)衰減,在出現(xiàn)某些故障是,也會發(fā)生突發(fā)性的衰減,出現(xiàn)標準化通過不過,反饋的電壓與工廠現(xiàn)場標準電壓相差巨大,發(fā)生這種情況,X射線測厚儀的測量精度肯定是不準確的。