光譜分析儀的用途和特點 一六儀器1

江蘇一六儀器  X射線熒光光譜測厚儀研發生產廠  一六儀器一liu品質  可同時檢測多層材料鍍層厚度(含有機物)及成分.操作簡單方便.厚度含量測試只需要幾秒鐘,歡迎來電咨詢!

性能優勢：

   下照式設計：可以快速方便地定位對焦樣品。

   無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。

   微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。

   率的jie shou qi：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達到穩定性。

   EFP先進算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

激光測厚儀的技術指標介紹

   激光測厚儀一般是由兩個激光位移傳感器上下對射的方式組成的，上下的兩個傳感器分別測量被測體上表面的位置和下表面的位置，通過計算得到被測體的厚度。激光測厚儀的優點在于它采用的是非接觸的測量，相對接觸式測厚儀更精準，不會因為磨損而損失精度。相對超聲波測厚儀精度更高。4)儀表柜、主控臺，就地控制箱和前置放大器箱的安裝，根據現場施工條件分頭進行吊裝。相對X射線測厚儀沒有輻射污染。

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X射線測厚儀測量精度的影響因素有哪些

首先,是X射線的高壓控制箱會對測量的精度造成一定的影響。X射線測厚儀的測量原理就是通過施加高壓電源出X射線,通過X射線的穿透物體時的衰減量來測量被測物體的厚度。但是高壓控制箱的安裝位置會對測厚儀的準確度造成一定的影響。安裝的位置不當就會使測量的精度不準確波動比較明顯。手持式的磁感應原理是，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。另外,X射線本身的衰減也會影響測厚儀的測量精度。

X射線熒光分析儀的應用

一六儀器X射線熒光測厚儀 研發生產廠家 品質保證

江蘇一六儀器有限公司研發的能量色散X熒光光譜儀具有穩定的多道脈沖分析采集系統、先進的解譜方法和EFP算法結合精準定位及變焦結構設計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析，歡迎來電咨詢！

X射線熒光分析儀的不斷完善和發展所帶動的X 射線熒光分析技術已被廣泛用于冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、刑偵、考古等諸多部門和領域。X 射線熒光光譜分析不僅成為對其物質的化學元素、物相、化學立體結構、物證材料進行試測，對產品和材料質量進行無損檢測，對人體進檢和微電路的光刻檢驗等的重要分析手段，也是材料科學、生命科學、環境科學等普遍采用的一種快速、準確而又經濟的多元素分析方法。同時，X 射線熒光光譜儀也是野外現場分析和過程控制分析等方面shou  xuan器之一。厚度含量測試只需要幾秒鐘,多小多復雜的樣品輕松搞定,歡迎來電咨詢。