膜厚測試儀歡迎來電

能量色散X射線熒光光譜儀技術原理

江蘇一六儀器  國內外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀 穩定的多道脈沖分析采集系統,專利獨特聚焦和變距設計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

能量色散X射線熒光光譜儀主要由激發、色散、探測、記錄及數據處理等單元組成。激發單元的作用是產生初級X射線。

它由高壓發生器和X光管組成。后者功率較大，用水和油同時冷卻。色散單元的作用是分出想要波長的X射線。它由樣品室、狹縫、測角儀、分析晶體等部分組成。

能量色散X射線熒光光譜儀技術原理

能量色散X射線熒光光譜儀是一種波長較短的電磁輻射，凡間是指能t局限在0.1^-100keV的光子。能量色散X射線熒光光譜儀與物質的互相效果首要有熒光、接收和散射三種。

能量色散X射線熒光光譜儀是由物質中的構成元素發生的特征輻射，經過側里和剖析樣品發生的x射線熒光，即可獲知樣品中的元家構成，獲得物質成分的定性和定量信息。

一六儀器---鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃層膜厚儀

儀器規格：

 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （長x寬x高）

 樣品倉尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （長x寬x高）

 儀器重量 ：55kg

 供電電源 ：交流220±5V

 da功率 ：330W

 環境溫度：15℃-30℃

 環境相對濕度：<70%

X射線測厚儀測量精度的影響因素有哪些

第四,在生產過程中,補償值也會對X射線測厚儀的測量精度造成影響。我們利用測厚儀測量是,會事先給測厚儀輸入一個補償值,讓測量值與實際值相等。江蘇一六儀器國內外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀穩定的多道脈沖分析采集系統,專利獨特聚焦和變距設計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例能量色散X射線熒光光譜儀主要由激發、色散、探測、記錄及數據處理等單元組成。在這個過程中,操作者首先對板材進行測量,但是操作者使用量尺的方式不同,就會造成補償值的大小不等,會形成人為的誤差。只有在進行測量時,操作者認真操作,減少補償值得測算誤差,使補償值接近真實值,提高X射線測厚儀的測量精度。 

一六儀器---鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃層膜厚儀

性能優勢：

下照式設計：可以快速方便地定位對焦樣品。

無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。

微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。

精密微型滑軌：快速精準定位樣品。

EFP先進算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

如何安裝X射線測厚儀

2) C型架按運行軌跡定位，并作感觀質量檢查。

   3) C型架落入導軌后，就進行冷卻水管、壓縮空氣的軟管及同軸電纜的連接。上述軟管及電纜應順著撓性履帶的走向固定牢固。

   4) 儀表柜、主控臺，就地控制箱和前置放大器箱的安裝，根據現場施工條件分頭進行吊裝。

   5) 電纜敷設，除同軸電纜外還包括控制系統電纜和測量信號系統電纜。

X射線熒光的基本原理

一六儀器X射線熒光測厚儀 研發生產廠家 品質保證

江蘇一六儀器有限公司研發的能量色散X熒光光譜儀具有穩定的多道脈沖分析采集系統、先進的解譜方法和EFP算法結合精準定位及變焦結構設計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析，歡迎來電咨詢！

當X射線激發出試樣特征X射線時，其入射電磁輻射能量必須大于某一個值才能引起其內層電子激發態從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個值是吸收限，相當于內層電子的功函數。高精度測厚儀,多薄多復雜組合的鍍層分析,一六儀器研發生產的儀器都能滿足您的使用。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發原子內層電子并產生特征X射線。

X射線的激發

   如果要得到某元素的特征X射線，需要對元素原子內層電子進行激發，使得內層電子獲得一定能量，能夠脫離原子核的束縛，從而在內層軌道形成電子空穴，當較高能級電子填補這一空穴時，才會發射一定能量的特征X射線，這個過程就是X射線的激發。