電鍍測厚儀量大從優「在線咨詢」

江蘇一六儀器   X射線熒光測厚儀    十年以上研發團隊      集研發生產銷售一體

性能優勢：

   下照式設計：可以快速方便地定位對焦樣品。

   無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。

   微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。

測厚儀

    測厚儀（thickness gauge ）是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業生產中常用來連續或抽樣測量產品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的性厚度計；超聲波測厚儀超聲波在各種介質中的聲速是不同的，但在同一介質中聲速是一常數。有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。

一六儀器  國內外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀 穩定的多道脈沖分析采集系統,專利獨特聚焦和變距設計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。

 測量注意事項：1.測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

2.測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

3在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數

4.在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質。

一六儀器-------鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃層膜厚儀

X射線測厚儀測量精度的影響因素

X射線源的衰減對于工廠現場的的標定過程中,隨著使用時間的增加,燈管的曲線會發生變化,在同一電壓下,隨著使用燈管時間的遞加,厚度偏差會越來越大,因此,X射線源的衰減,是影響測量精度的一個主要原因。除了正常使用過程中X射線源會出現衰減,在出現某些故障是,也會發生突發性的衰減,出現標準化通過不過,反饋的電壓與工廠現場標準電壓相差巨大,發生這種情況,X射線測厚儀的測量精度肯定是不準確的。測厚儀在使用過程中，如果操作不規范，很容易導致測厚儀出現故障及問題，因此我們在使用前都需要先了解下測厚儀的操作規范及一些常見問題的處理方法：一。