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發布時間：2020-11-01 07:19
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江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗，經與海內外多名專家通力合作，研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀
X熒光涂鍍層測厚儀測試原理
同樣,L層電子被逐出可以產生L系輻射。如果入射的X 射線使某元素的K層電子激發成光電子后L層電子躍遷到K層，此時就有能量ΔE釋放出來，且ΔE=EK-EL，這個能量是以X射線形式釋放，產生的就是Kα 射線，同樣還可以產生Kβ射線 ，L系射線等。所以，表示薄膜的形狀，一定要用宏觀方法，即采用長、寬、厚的方法。莫斯萊(H.G.Moseley) 發現，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關，其數學關系如下: λ=K(Z-s)-2 這就是莫斯萊定律，式中K和S是常數，因此,只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據此，可以進行元素定量分析。
X熒光鍍層測厚儀金屬成分含量的測定
在包含某種元素1的樣品中，照射一次X射線，就會產生元素1的熒光X射線，不過這個時候的熒光X射線的強度會隨著樣品中元素1的含量的變化而改變。元素1的含量多，熒光X射線的強度就會變強。005umX熒光測厚儀相關注意事項：儀器供電電壓必須與儀器品牌上的電壓一致。注意到這一點，如果預先知道已知濃度樣品的熒光X射線強度，就可以推算出樣品中元素1的含量。采用定量分析的時候，可以在樣品中加入高純度的二氧化硅，作為參比樣，并且摻量是已知的。這樣可以間接知道其他組分的含量。
江蘇一六儀器 專業涂鍍層研發、生產、銷售高新技術企業。其中穩定的多道脈沖分析采集系統、先進的解譜方法和EFP算法結合精準定位及變焦結構設計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題。
單鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
雙鍍層：Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
三鍍層：Au/Ni/Cu/ABS，Au/Ag/Ni/Cu, Au/Ni/Cu/Fe,等等
一、功能
1. 采用 X 射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足
GB/T 16921-2005 標準（等同 ISO3497：2000、 ASTM B568 和 DIN50987）。
2. 鍍層層數：多至 5 層。
3. 測量點尺寸：圓形測量點，直徑約 0.2—0.8毫米。
4. 測量時間：通常 30 秒。
5. 測量誤差：通常小于 5%，視樣品具體情況而定。
6. 可測厚度范圍：通常 0.01 微米到 30 微米，視樣品組成和鍍層結構而定。
