熒光發射光譜儀批發高性價比的選擇,和力達科技

熒光光譜分析儀——光譜分析

光譜分析是利用特征光譜研究物質結構或測定化學成分方法的統稱。當輻射光照射試樣時，試樣中的原子或分子會選擇吸收其中特定波長的光，導致原子或分子中的電子、核子或分子本身的運動狀態發生變化引起能級躍遷。從基態躍遷到激發態將吸收一定波長的能量；處于激發態的分子極不穩定，會以發射(或散射）一定波長電磁波的方式釋放能量。記錄被測物質吸收或發射出來的電磁波的波長和強度形成的發射光譜、散射光譜（拉曼光譜）和吸收光譜(包括原子吸收光譜，紫外、可見、紅外光譜，穆斯堡爾譜，X熒光光譜、順磁共振譜等），可以反映了物質原子和分子的特征性。單色儀與光譜攝譜儀的結構相似，為從寬波段的輻射束中分離出一系列狹窄波段的電磁輻射。通過對譜圖的解析，可以對物質的化學組分進行定性定量分析，對基團或官能團、分子結構及其化學狀態進行剖析和研究。是現代材料結構分析中不可缺少的方法。

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熒光分析的特點

靈敏度高：熒光分析的特點是靈敏度高，通常情況下要比分光光度計的靈敏度高出2-3個數量級。

選擇性強：包括激發光譜和發射光譜，在鑒定物質時，通過選擇波長可以使分子熒光分析有多種選擇。試樣量少和方法簡便,能提供比較多的物理參數：如激發光譜、發射光譜、熒光強度、量子產率、熒光壽命、熒光偏振等參數。計算機采集光譜數據和處理數據（Datamax和Gram32)。這些參數反映了分子的各種特性，并通過它們可以得到被檢測分子的更多信息。

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熒光光譜儀的工作原理

當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時，驅逐一個內層電子而出現一個空穴，使整個原子體系處于不穩定的激發態，激發態原子壽命約為10-12-10-14s，然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷。當較外層的電子躍遷到空穴時，所釋放的能量隨即在原子內部被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，此稱為俄歇效應，亦稱次級光電效應或無輻射效應，所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。它的能量是特征的，與入射輻射的能量無關。熒光壽命分析結介紹熒光壽命分析系統可以選裝一定波長的激發光源或者一定頻率范圍的電脈沖激發源來激發樣品池里的樣品以產生相應的熒光信號。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不在原子內被吸收，而是以輻射形式放出，便產生X射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，X射線熒光的能量或波長是特征性的，與元素有一一對應的關系。圖10.1給出了X射線熒光和俄歇電子產生過程示意圖。

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