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發(fā)布時間:2020-10-30 11:40  
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江蘇一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集 先進(jìn)EFP算法
膜厚儀又名膜厚測試儀分為手持式和臺式二種,手持式又有磁感應(yīng)鍍層測厚儀,電渦流鍍層測厚儀,熒光X射線儀鍍層測厚儀。
手持式的磁感應(yīng)原理是,利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。
臺式的熒光X射線膜厚儀,是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產(chǎn)生低能量的光子,俗稱為二次熒光,,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值。
一六儀器----鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃?qū)幽ず駜x
X射線測厚儀測量精度的影響因素有哪些
我們要保證生產(chǎn)的產(chǎn)品厚度上是否可以,那么X射線測厚儀測量的精度是否準(zhǔn)確就非常重要了,如果X射線測厚儀的測量精度發(fā)生了偏差,那么生產(chǎn)出來的產(chǎn)品就不會!涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點,是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測儀器,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。由此可知測厚儀的測量精度有多么重要,因此,這次在這與大家分享下X射線測厚儀測量精度的影響因素有哪些:
首先,是X射線的高壓控制箱會對測量的精度造成一定的影響;
第二,在X射線測厚儀通過施加高壓釋放出X射線時,X射線途經(jīng)環(huán)境的溫度濕度也會影響X射線對被測物體的測量;
第三,在測量過程中,被測物體上,可能會有附著物,也會影響測量的精度;
第四,在生產(chǎn)過程中,補(bǔ)償值也會對X射線測厚儀的測量精度造成影響。
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性能優(yōu)勢:
下照式設(shè)計:可以快速方便地定位對焦樣品。
無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進(jìn)行無損檢測,凹槽深度范圍0-90mm。
微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件。
率的jie shou qi :即使測試0.01mm2以下的樣品,幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。
精密微型滑軌:快速精準(zhǔn)定位樣品。
EFP先進(jìn)算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。
X射線測厚儀應(yīng)用在哪些方面
X射線測厚儀主要應(yīng)用在哪些方面?對于我們要使用到測厚儀的廠家來說,測厚儀能否適用于我們的產(chǎn)品是非常重要的,那么X射線測厚儀主要應(yīng)用在哪些方面?接下來就來了解下:
X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機(jī)為核心,采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng),已達(dá)到要求的軋制厚度。
一六儀器X射線熒光測厚儀 研發(fā)生產(chǎn)廠家 品質(zhì)保證
江蘇一六儀器有限公司研發(fā)的能量色散X熒光光譜儀具有穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計,解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析,歡迎來電咨詢!
不同種類的測厚儀的應(yīng)用
1、薄膜測厚儀:用于測定薄膜、薄片等材料的厚度,測量范圍寬、測量精度高,具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動斷電等特點。
2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,一六儀器從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。
應(yīng)用領(lǐng)域:
線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測
鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析
手表、精密儀表制造行業(yè)
釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB
汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測
衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)
電鍍液的金屬陽離子檢測




3、涂層測厚儀:用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.